



Correo electrónico
firefly@tongdatek.comTeléfono
+86-415-6123805Los principales indicadores de los materiales poliméricos incluyen el tipo de polímero o su cristalinidad. Los polímeros también exhiben una microestructura diferente, que también puede afectar las propiedades mecánicas de los materiales poliméricos.
Correo electrónicoMás
Un indicador importante de XRD es que hay una muy buena fuente de luz de rayos X. La denominada buena fuente de luz de rayos X suele referirse a alta intensidad, alto paralelismo y alta pureza. Este artículo presentará una de las tecnologías centrales del neoconfucianismo, el camino óptico CBO.
Correo electrónicoMás
La tecnología de difracción de rayos X se utiliza ampliamente en la investigación de baterías de iones de litio. XRD es un método convencional para el análisis cualitativo y cuantitativo de fases en materiales.
Correo electrónicoMás
XRD puede medir muestras a granel y en polvo, y tiene diferentes requisitos para diferentes tamaños y propiedades de muestras.
Correo electrónicoMás
El difractómetro de rayos X (DRX) mundial se ha desarrollado de manera constante en los últimos años y China es un mercado con grandes perspectivas de desarrollo.
Correo electrónicoMás
Tomando como ejemplo el escalamiento de la deposición, este artículo presenta cómo utilizar el difractómetro de rayos X para el análisis cuantitativo y de fase cualitativa.
Correo electrónicoMás
La aplicación de nuevas tecnologías y nuevos productos como 5G, big data e inteligencia artificial generará una enorme demanda en el mercado de semiconductores, y el gasto mundial en equipos de semiconductores ha entrado en un ciclo ascendente.
Correo electrónicoMás
XRD de alta resolución (HR-XRD) es un método común para medir la composición y el espesor de semiconductores compuestos como SiGe, AlGaAs, InGaAs, etc.
Correo electrónicoMás
El difractómetro de rayos X (DRX) se puede dividir en difractómetro de polvo de rayos X y difractómetro de cristal único de rayos X; el principio físico básico de los dos es el mismo.
Correo electrónicoMás
XRD es un medio de investigación que consiste en la difracción mediante difracción de rayos X de un material para analizar su patrón de difracción para obtener información como la composición del material, la estructura o forma de los átomos o moléculas dentro del material.
Correo electrónicoMás