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+86-415-6123805La XRD de haz paralelo de cristales ópticos de rayos X se ha aplicado con éxito en análisis de películas delgadas, evaluación de textura de muestras, monitoreo de estructura y fase cristalina, etc.
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Las pruebas no destructivas de CT industrial son el juicio de defectos internos, defectos estructurales, física y composición del producto en el estado original y el rendimiento de la pieza de trabajo sin destruir ni cambiar las materias primas.
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La tecnología Micro-CT tiene importantes ventajas en la caracterización de cerámicas, ya que puede revelar la estructura compuesta dentro del material sin dañarla y restaurar la tecnología clave en la producción de cerámicas.
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Un difractómetro de rayos X es un instrumento de precisión que se utiliza para estudiar la estructura cristalina, la morfología y las propiedades de la materia. Durante el proceso de embalaje y transporte, se deben tomar ciertas medidas para garantizar que la seguridad y el rendimiento del instrumento no se vean afectados.
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Como uno de los medios importantes de caracterización de la estructura de materiales, la XRD se utiliza ampliamente en materiales, física, química, medicina y otros campos.
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El difractómetro de rayos X se utiliza principalmente para la caracterización de fases, análisis cuantitativo, análisis de estructura cristalina, análisis de estructura de materiales, análisis de orientación cristalina de muestras de polvo, bloques o películas delgadas, etc.
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Debido a las diferentes condiciones de cristalización, las partículas de las muestras de fármacos en polvo tendrán diferentes morfologías.
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En el análisis de rayos X, instrumento utilizado para medir el ángulo entre un haz de rayos X incidente y un haz de rayos X difractado. El difractómetro mapea automáticamente la variación de la intensidad de difracción con el ángulo 2θ.
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Los investigadores han desarrollado una técnica de imágenes de rayos X que produce imágenes detalladas de organismos con dosis de rayos X mucho más bajas de lo que era posible anteriormente.
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El difractómetro de rayos X policristalino, también conocido como difractómetro de polvo, se utiliza generalmente para medir materiales a granel en polvo, metales policristalinos o polímeros.
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