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+86-415-6123805La difracción de rayos X recorre todas las etapas del control de calidad de los medicamentos, como el estudio de las materias primas y los preparados.
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La tensión residual tiene un gran impacto en la estabilidad dimensional, la resistencia a la corrosión por tensión, la resistencia a la fatiga, el cambio de fase y otras propiedades de los materiales y componentes. Su medición ha sido ampliamente preocupada por la academia y la industria.
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Recientemente, un nuevo estudio fusionó con éxito óxidos metálicos con zeolita A y reveló el misterio de este proceso mediante la tecnología XRD y FTIR.
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XRD, es la abreviatura de difracción de rayos X. Como persona material, no importa qué material se haga, XRD es el medio de caracterización más básico y más utilizado.
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La estructura fina de absorción de rayos X (XAFS) es una poderosa herramienta para estudiar la estructura atómica o electrónica local de materiales basada en una fuente de luz de radiación sincrotrón.
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Cuando un haz de rayos X extremadamente delgado pasa a través de un material con una densidad electrónica desigual de tamaño nanométrico, los rayos X se dispersarán en una pequeña región angular cerca de la dirección del haz original; este fenómeno se llama ángulo X pequeño. -dispersión de rayos.
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La dispersión de rayos X de ángulo pequeño es la dispersión difusa de electrones en rayos X en el rango de ángulo pequeño cerca del haz original. La dispersión de ángulo pequeño ocurre en todos los materiales con una densidad de electrones no uniforme en la escala nanométrica.
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La difracción de rayos X de ángulo pequeño (SAXD) se utiliza principalmente para determinar el espaciado de caras de cristales muy grandes o la estructura de películas delgadas.
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El uso de rayos X para estudiar la estructura de los cristales principalmente a través del fenómeno de difracción de rayos X en el cristal.
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