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El difractómetro de rayos X TD-3700 es un nuevo miembro de la serie TD, equipado con una variedad de detectores de alto rendimiento, como detectores de matriz unidimensional de alta velocidad, detectores bidimensionales, detectores SDD, etc. Integra análisis rápido, operación conveniente y seguridad para el usuario. La arquitectura de hardware modular y el sistema de software personalizado logran una combinación perfecta, lo que hace que su tasa de falla sea extremadamente baja, el rendimiento antiinterferencia sea bueno y garantiza un funcionamiento estable a largo plazo de la fuente de alimentación de alto voltaje. El difractómetro de polvo de rayos X TD-3700 admite métodos de escaneo de datos de difracción convencionales y de escaneo de datos de transmisión. El difractómetro de rayos X en polvo TD-3700, con todas las ventajas del difractómetro de rayos X TD-3500, está equipado con detectores de alto rendimiento. En comparación con los detectores de centelleo o los detectores proporcionales, la intensidad del cálculo de difracción se puede aumentar varias decenas de veces y se pueden obtener patrones de difracción completos de alta sensibilidad y alta resolución y una mayor intensidad de conteo en un período de muestreo más corto.

El espectro de estructura fina de absorción de rayos X (XAFS) es una herramienta analítica que se utiliza para estudiar la estructura y las propiedades de las sustancias. XAFS obtiene información sobre los átomos y las moléculas de una muestra midiendo la absorción de rayos X de la muestra dentro de un rango de energía específico. XAFS es una herramienta poderosa para estudiar la estructura atómica o electrónica local de los materiales. La tecnología XAFS se usa ampliamente en la ciencia de los materiales, la química, la biología y otros campos, especialmente en áreas de investigación como catálisis, baterías, sensores, etc. XAFS tiene un valor de aplicación importante. A través de la tecnología XAFS, los investigadores pueden obtener una comprensión más profunda de la microestructura y las propiedades de las muestras, lo que proporciona un poderoso soporte para el diseño y la optimización de nuevos materiales.

El difractómetro de rayos X de cristal único se utiliza principalmente para determinar la estructura espacial tridimensional y la densidad de nubes de electrones de sustancias cristalinas como complejos inorgánicos, orgánicos y metálicos, y para analizar la estructura de materiales especiales como maclado, cristales no conmensurables, cuasicristales, etc. Determine el espacio tridimensional preciso (incluyendo longitud de enlace, ángulo de enlace, configuración, conformación e incluso densidad de electrones de enlace) de nuevas moléculas compuestas (cristalinas) y la disposición real de las moléculas en la red; El difractómetro de rayos X de cristal único puede proporcionar información sobre los parámetros de la celda cristalina, el grupo espacial, la estructura molecular, el enlace de hidrógeno intermolecular y las interacciones débiles, así como información estructural como la configuración y conformación molecular. El XRD de cristal único se usa ampliamente en la investigación analítica en cristalografía química, biología molecular, farmacología, mineralogía y ciencia de los materiales. La difracción de rayos X de un solo cristal tiene una alta precisión: Precisión de repetibilidad del ángulo 2θ: 0,0001°; Ángulo de paso mínimo: 0,0001°; Rango de control de temperatura: 100 K-300 K Precisión de control: ±0,3 K El instrumento de medición de ángulos de cristal único selecciona cuatro círculos de exploración concéntricos. El XRD de cristal único adopta una configuración de baja temperatura. El personal técnico de la empresa ha completado la instalación y depuración del difractómetro de rayos X monocristalino extranjero, y los resultados de las pruebas han satisfecho enormemente a los usuarios extranjeros. Al mismo tiempo, la funcionalidad, la estabilidad y el servicio posventa del instrumento han recibido elogios unánimes de los usuarios extranjeros. En general, el difractómetro de rayos X de cristal único desempeña un papel irreemplazable como instrumento científico importante en la investigación y la aplicación en múltiples disciplinas. Con el avance y la innovación continuos de la tecnología, creemos que en el futuro, el difractómetro de rayos X de cristal único demostrará su valor y potencial únicos en más campos.

La máquina de prueba de soldadura por rayos X portátil NDT es un tipo de equipo de inspección radiográfica que puede generar rayos X y tiene múltiples usos. La máquina de rayos X portátil para inspección de soldaduras se puede utilizar en los campos industrial y médico. En la industria, se utiliza para la detección de defectos en la fabricación de piezas de automóviles, detección de cubos de ruedas, detección de bastidores auxiliares, detección de calidad de bisagras, etc., para garantizar que los productos industriales probados tengan una alta resistencia. Además, pertenece al equipo de inspección de soldaduras por rayos X y se utiliza comúnmente para la detección de soldaduras, detección de soldaduras de calderas, detección de soldaduras de componentes aeroespaciales, etc.

El analizador de cristales de rayos X de la serie TDF es un instrumento de rayos X a gran escala que se utiliza para estudiar la microestructura interna de las sustancias. Utiliza el principio de interacción entre los rayos X y el cristal para determinar la disposición atómica dentro del cristal mediante el análisis del patrón de difracción de rayos X. Se utiliza principalmente para la orientación de monocristales, la inspección de defectos, la determinación de parámetros de red, la determinación de la tensión residual, el estudio de la estructura de placas y varillas, la investigación de la estructura de sustancias desconocidas y las dislocaciones de monocristales. El analizador de cristales de rayos X, como instrumento de rayos X, proporciona información valiosa para la investigación en ciencia de materiales y otros campos relacionados. Con el avance continuo de la tecnología y la expansión de las aplicaciones, el analizador de cristales de rayos X seguirá desempeñando un papel importante en la investigación científica y la producción industrial.

El instrumento automático de orientación por rayos X es un dispositivo que utiliza el principio de difracción de rayos X para determinar la estructura cristalina, la orientación y los parámetros de red. Tiene una amplia gama de aplicaciones en la ciencia de los materiales, la geología, la física y la química, especialmente en el estudio de la microestructura y las propiedades de los materiales monocristalinos, policristalinos y de película delgada. A continuación se proporcionará una introducción detallada al principio de funcionamiento, la aplicación y las precauciones operativas del orientador de cristales por rayos X. Con el avance de la tecnología, los dispositivos de instrumentos de orientación de rayos X automáticos continúan mejorando, con una mayor resolución y un funcionamiento más sencillo. Al mismo tiempo, la combinación con otras técnicas analíticas como la microscopía electrónica y el análisis espectroscópico hace que el análisis de la estructura cristalina sea más completo y profundo. Además, los dispositivos analizadores de orientación de rayos X portátiles y de monitoreo en línea se han desarrollado gradualmente, brindando posibilidades de análisis in situ y monitoreo en tiempo real. En resumen, el analizador de orientación por rayos X es una potente herramienta analítica que resulta crucial para comprender y controlar la microestructura de los materiales. Con el continuo desarrollo de la tecnología, su aplicación en diversos campos se hará más extensa y profunda.

El portamuestras multifunción es un dispositivo que se utiliza para proporcionar flexibilidad y alta eficiencia en diversas aplicaciones industriales y de investigación científica. Se utiliza comúnmente en el análisis de difracción de rayos X (DRX) y la microscopía electrónica, y es un accesorio de los difractómetros de rayos X (accesorio de DRX). Como accesorio de los difractómetros de rayos X (accesorio de DRX) generalmente equipados con encimeras ajustables para acomodar muestras de diferentes tamaños y formas. El portamuestras multifunción es una de las herramientas indispensables en los laboratorios e instituciones de investigación modernos. Promueve en gran medida el desarrollo de la investigación científica y las aplicaciones industriales al proporcionar una plataforma de procesamiento y análisis de muestras flexible, eficiente y precisa. Ya sea en los campos de la ciencia de los materiales, la biomedicina o la industria electrónica, el portamuestras multifunción juega un papel importante para ayudar a los investigadores e ingenieros a comprender y mejorar mejor sus temas de investigación.

Los accesorios de medición integrados multifuncionales se utilizan para analizar películas sobre placas, bloques y sustratos, y pueden realizar pruebas como detección de fase cristalina, orientación, textura, tensión y estructura en el plano de películas delgadas. Los accesorios de medición integrados multifuncionales suelen estar diseñados para mejorar la funcionalidad del difractómetro de rayos X, lo que les permite adaptarse a necesidades de prueba más diversas. Existe una estrecha relación entre los accesorios de medición integrados multifuncionales y el difractómetro de rayos X. Estos accesorios no solo mejoran la funcionalidad y el rendimiento del difractómetro de rayos X, sino que también mejoran su facilidad de operación y seguridad. En aplicaciones prácticas, los usuarios pueden elegir los accesorios adecuados según sus necesidades específicas para ampliar los escenarios de aplicación del difractómetro de rayos X y mejorar la eficiencia de la medición.

Tubos de rayos X diseñados específicamente para instrumentos analíticos: tubos de cerámica corrugados, tubos cermet y tubos de vidrio, adecuados para varios modelos de XRD, XRF, analizadores de cristal e instrumentos de orientación en el país y en el extranjero. Parámetros técnicos de los tubos de rayos X: 1. Tipos de materiales de destino opcionales: Cu, Co, Fe, Cr, Mo, Ti, W, etc. 2. Tipo de enfoque: 0,2 × 12 mm² o 1 × 10 mm² o 0,4 × 14 mm² (enfoque fino)

Accesorio de batería original, rango de prueba: 0,5-160 grados, resistencia a la temperatura: 400 ℃, tamaño de ventana de berilio (película de poliéster): diámetro 15 mm (personalizable); Espesor 0,1 mm (personalizable). Se utilizan ampliamente como accesorios de difractómetro de rayos X en sistemas electroquímicos que contienen carbono, oxígeno, nitrógeno, azufre, complejos incrustados en metales, etc. El accesorio de batería original se utiliza para fijar toda la platina de muestra de batería original en el instrumento de medición de ángulos del difractómetro de rayos X, sirviendo como conexión y soporte.