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El difractómetro de rayos X policristalino, también conocido como difractómetro de polvo, se utiliza generalmente para medir materiales a granel en polvo, metales policristalinos o polímeros.

Las condiciones de potencia dependen del tubo de rayos X, del material objetivo y del tipo de foco. Aunque los objetivos de Cu se utilizan ampliamente para la difracción, no se recomienda el uso de objetivos de Cu para el análisis de austenita residual debido a la fuerte fluorescencia de los materiales a base de hierro.

Mediante la difracción de rayos X del material y el análisis de su patrón de difracción se obtiene información como la composición del material, la estructura o morfología de los átomos o moléculas internas.

La difracción de rayos X (DRX) es un medio de investigación para obtener información como la composición de un material, la estructura o forma de un átomo o molécula interna analizando su patrón de difracción mediante difracción de rayos X.

Utilizando el principio de difracción de rayos X, el ángulo de corte de monocristales naturales y artificiales se determina de forma precisa y rápida, y la máquina de corte está equipada para el corte direccional de dichos cristales.

La fluorescencia de rayos X de reflexión total (TXRF) es una técnica de análisis de elementos superficiales comúnmente utilizada para analizar partículas, residuos e impurezas en superficies lisas.

El analizador de cristales de rayos X es un tipo de instrumento analítico grande para estudiar la microestructura interna de sustancias, utilizado principalmente en la orientación de un solo cristal, detección de defectos, determinación de tensión residual, dislocación de un solo cristal, etc.

La difracción de rayos X es el medio más efectivo y más utilizado, y la difracción de rayos X es el primer método utilizado por los humanos para estudiar la microestructura de la materia.