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XAFS, como técnica de caracterización avanzada para el análisis de la estructura local de materiales, puede proporcionar información de coordinación de la estructura atómica más precisa en el rango estructural de corto alcance que la difracción de cristales de rayos X.

La difracción de rayos X es una técnica analítica no destructiva de uso común que se puede utilizar para revelar la estructura cristalina, la composición química y las propiedades físicas de sustancias.

Difracción de rayos X, a través de la difracción de rayos X de un material, el análisis de su patrón de difracción, para obtener la composición del material, la estructura o forma de los átomos o moléculas dentro del material y otros medios de investigación.

La difracción de rayos X recorre todas las etapas del control de calidad de los medicamentos, como el estudio de las materias primas y los preparados.

La tensión residual tiene un gran impacto en la estabilidad dimensional, la resistencia a la corrosión por tensión, la resistencia a la fatiga, el cambio de fase y otras propiedades de los materiales y componentes. Su medición ha sido ampliamente preocupada por la academia y la industria.

Recientemente, un nuevo estudio fusionó con éxito óxidos metálicos con zeolita A y reveló el misterio de este proceso mediante la tecnología XRD y FTIR.

XRD, es la abreviatura de difracción de rayos X. Como persona material, no importa qué material se haga, XRD es el medio de caracterización más básico y más utilizado.

La estructura fina de absorción de rayos X (XAFS) es una poderosa herramienta para estudiar la estructura atómica o electrónica local de materiales basada en una fuente de luz de radiación sincrotrón.

Cuando un haz de rayos X extremadamente delgado pasa a través de un material con una densidad electrónica desigual de tamaño nanométrico, los rayos X se dispersarán en una pequeña región angular cerca de la dirección del haz original; este fenómeno se llama ángulo X pequeño. -dispersión de rayos.