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+86-415-6123805Las propiedades de los materiales suelen estar determinadas por su composición de fases, y la XRD se utiliza ampliamente como uno de los principales medios de análisis de fases.
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El grado de grafitización se refiere a qué tan cerca se parece la estructura cristalina del material de grafito al grafito perfecto después de reorganizar la estructura amorfa del carbono.
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Un equipo de investigación del Instituto Hefei de Ciencias Físicas de la Academia de Ciencias de China realizó recientemente un estudio que propone un método novedoso para mejorar la detección de rayos X mediante la incorporación de cristales peritécticos de CsPb2Br5 desfasados en materiales de bloques de CsPbBr3.
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La difracción de rayos X es una técnica básica para el estudio de la estructura sólida, que puede proporcionar información espectral única para la composición química y la disposición estructural de las muestras.
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XRD es el sistema de difractómetro de rayos X más avanzado del mundo actual, con un diseño preciso y funciones completas, y puede adaptarse de manera flexible a diversas determinaciones de microestructuras, como el polvo.
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Fundada en 2002, Dandong Tongda Technology Co., Ltd. es una empresa nacional de alta tecnología con instrumentos de análisis de rayos X e instrumentos de pruebas no destructivas de rayos X como sus productos líderes.
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Recientemente, el Ministerio de Ciencia y Tecnología anunció la lista del segundo lote de proyectos clave en el marco del Plan Nacional de Investigación y Desarrollo clave de 2023 "Condiciones de investigación científica básica e investigación y desarrollo de instrumentos y equipos científicos importantes".
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Las diferentes formas cristalinas del mismo fármaco pueden diferir significativamente en apariencia, solubilidad, punto de fusión, etc., lo que afecta la estabilidad, producción, biodisponibilidad y seguridad del fármaco.
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XRD es un método de investigación para obtener información como la composición del material, las moléculas dentro del material mediante difracción de rayos X y el análisis de su patrón de difracción.
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La difracción de rayos X es un método para estudiar la fase y la estructura cristalina de una sustancia mediante el fenómeno de difracción de los rayos X en un cristal.
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