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+86-415-6123805Los difractómetros de sobremesa permiten una rápida identificación de fases in situ. Su tamaño compacto y su sencillo funcionamiento superan las limitaciones tradicionales de la difracción de rayos X (DRX), lo que aumenta la eficiencia en el control de calidad, la I+D y aplicaciones de campo como el cribado y el análisis de materiales.
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