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Los accesorios para difractómetros de ángulo pequeño son accesorios importantes que se utilizan en difractómetros de rayos X. Los accesorios para difractómetros de ángulo pequeño permiten realizar mediciones de difracción de rayos X dentro de un rango de ángulos muy pequeño, de 0° a 5°, para pruebas de espesor de nanopelículas multicapa. Desempeñan un papel importante en campos como la ciencia de los materiales, la física, la química y la biología. Tipos y características comunes: Accesorio de película delgada de luz paralela: este accesorio puede generar haces de rayos X paralelos y es adecuado para mediciones de difracción de ángulos pequeños de muestras de película delgada. Puede mejorar la precisión y la resolución de las mediciones, reducir los errores de medición causados ​​por la divergencia del haz y adaptarse mejor a muestras de película delgada de diferentes espesores y propiedades. Platina de muestra multifuncional: Equipada con accesorios de difracción de ángulo pequeño, la platina de muestra multifuncional puede proporcionar varios entornos de prueba para muestras, como calentamiento, enfriamiento, estiramiento in situ, etc. Esto hace que sea más conveniente estudiar los cambios estructurales de los materiales en diferentes condiciones externas y permite la observación en tiempo real de la respuesta estructural de los materiales durante la temperatura, el estrés y otros cambios. Los accesorios del difractómetro de ángulo pequeño juegan un papel importante en múltiples campos, como la ciencia de los materiales, la física, la química y la biología, al lograr una difracción de ángulo pequeño y una medición precisa del espesor de película nanométrica multicapa, proporcionando a los investigadores una herramienta poderosa para la exploración en profundidad de las microestructuras y propiedades de los materiales.

El difractómetro de rayos X de sobremesa TDM-20 utiliza un nuevo detector de matriz de alto rendimiento, y la carga de este detector ha mejorado enormemente el rendimiento general de la máquina. El difractómetro de rayos X de sobremesa TDM-20 se utiliza principalmente para el análisis de fases de polvos, sólidos y materiales similares a pastas. El difractómetro de rayos X de sobremesa TDM-20 utiliza el principio de difracción de rayos X para realizar análisis cualitativos o cuantitativos, análisis de la estructura cristalina y otros materiales policristalinos como muestras de polvo y muestras de metal. El difractómetro de rayos X de sobremesa se utiliza ampliamente en industrias como la industria, la agricultura, la defensa nacional, los productos farmacéuticos, los minerales, la seguridad alimentaria, el petróleo, la educación y la investigación científica.

El difractómetro de rayos X de alta resolución TD-3700 está equipado con una variedad de detectores de alto rendimiento, como detectores de matriz unidimensional de alta velocidad, detectores bidimensionales, detectores SDD, etc. El difractómetro de rayos X TD-3700 integra análisis rápido, operación conveniente y seguridad para el usuario. La arquitectura de hardware modular y el sistema de software personalizado logran una combinación perfecta, lo que hace que su tasa de falla sea extremadamente baja, el rendimiento antiinterferencia sea bueno y garantiza un funcionamiento estable a largo plazo de la fuente de alimentación de alto voltaje. El difractómetro de rayos X TD-3700 puede aumentar la intensidad del cálculo de difracción en decenas de veces o más, obtener patrones de difracción completos de alta sensibilidad y alta resolución y una mayor intensidad de conteo en un período de muestreo más corto, y también admite el escaneo de datos de transmisión. La resolución del modo de transmisión es mucho mayor que la del modo de difracción, lo que es adecuado para el análisis estructural y otros campos. El modo de difracción tiene fuertes señales de difracción y es más adecuado para la identificación de fase de rutina en el laboratorio.

El difractómetro monocristal de rayos X TD-5000 se utiliza principalmente para determinar la estructura espacial tridimensional y la densidad de nubes de electrones de sustancias cristalinas como complejos inorgánicos, orgánicos y metálicos, y para analizar la estructura de materiales especiales como maclado, cristales no conmensurables, cuasicristales, etc. Determine el espacio tridimensional preciso (incluyendo longitud de enlace, ángulo de enlace, configuración, conformación e incluso densidad de electrones de enlace) de nuevas moléculas compuestas (cristalinas) y la disposición real de las moléculas en la red; Puede proporcionar información sobre los parámetros de la celda cristalina, el grupo espacial, la estructura molecular del cristal, el enlace de hidrógeno intermolecular y las interacciones débiles, así como información estructural como la configuración y conformación molecular. El difractómetro monocristal de rayos X se utiliza ampliamente en la investigación analítica en cristalografía química, biología molecular, farmacología, mineralogía y ciencia de los materiales. El difractómetro de rayos X de cristal único es un producto de alta tecnología en el marco del Proyecto Nacional de Desarrollo de Instrumentos y Equipos Científicos Principales del Ministerio de Ciencia y Tecnología, dirigido por Dandong Tongda Technology Co., Ltd., que llena el vacío en el desarrollo y la producción de difractómetros de rayos X de cristal único en China.

El difractómetro de rayos X de polvo se utiliza principalmente para el análisis cuantitativo y cualitativo de fases, el análisis de la estructura cristalina, el análisis de la estructura del material, el análisis de la orientación de los cristales, la determinación de la tensión macroscópica o microscópica, la determinación del tamaño del grano, la determinación de la cristalinidad, etc. de muestras de polvo, bloques o películas. El difractómetro de rayos X TD-3500 producido por Dandong Tongda Technology Co., Ltd. adopta el control PLC de Siemens importado, lo que hace que el difractómetro de rayos X TD-3500 tenga las características de alta precisión, alta precisión, buena estabilidad, larga vida útil, fácil actualización, fácil operación e inteligencia, y puede adaptarse de manera flexible al análisis de pruebas y la investigación en varias industrias.

El difractómetro de rayos X TD-3700 es un difractómetro de rayos X multifuncional y de alto rendimiento fabricado por Dandong Tongda Technology Co., Ltd. Las principales características son detectores de alto rendimiento, diversos métodos de escaneo, operación conveniente y segura, rendimiento estable y confiable. Para obtener detalles específicos, consulte el sitio web de Dandong Tongda Technology Co., Ltd.

El difractómetro de rayos X de sobremesa TDM-20 ofrece una potencia de 1200 W en un diseño compacto, superando los estándares internacionales de 600 W. Con una linealidad de ±0,01° y una repetibilidad de 0,0001°, permite un análisis de fase preciso para la investigación de materiales y el control de calidad industrial. Su sistema de refrigeración integrado y la compatibilidad global de accesorios lo convierten en una solución ideal y rentable para laboratorios internacionales.

Dandong Tongda Science and Technology Co., Ltd. es líder en el sector, centrada en la I+D y la innovación en tecnologías clave como el análisis de difracción. Mediante colaboraciones con instituciones académicas, desarrolla productos de alta eficiencia con propiedad intelectual propia, rompiendo monopolios internacionales. La empresa fundamenta su marca en la integridad y la profesionalidad, adhiriéndose al lema «La excelencia marca la pauta, la integridad construye la marca» para potenciar su competitividad y contribuir al desarrollo de la industria de instrumentos científicos en China.

El difractómetro de rayos X de alta resolución TD-3700 ofrece un rendimiento analítico excepcional gracias a su innovadora tecnología de detectores y sus modos de escaneo duales. Con una rápida adquisición de datos, un funcionamiento sencillo y una seguridad mejorada, permite un análisis preciso de materiales en aplicaciones de investigación e industriales, estableciendo nuevos estándares para los instrumentos científicos chinos.

El difractómetro de rayos X de sobremesa TDM-20 integra generación de rayos X avanzada, alta precisión goniométrica y detección eficiente en un diseño compacto. Proporciona análisis de fase fiables para la ciencia de los materiales, la industria farmacéutica y el control de calidad industrial, con el respaldo de soporte global y certificaciones internacionales.