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El difractómetro de rayos X TD-3500 de Dandong Tongda Science & Technology Co., Ltd. proporciona análisis precisos de materiales para diversas industrias. Su goniómetro de alta precisión y su control PLC patentado garantizan resultados fiables y un manejo intuitivo, ofreciendo una solución versátil para clientes de todo el mundo.

El difractómetro de rayos X de alta potencia TDM-20 (XRD de sobremesa) se utiliza principalmente para el análisis de fases de polvos, sólidos y materiales similares de tipo pastoso. El principio de difracción de rayos X se puede utilizar para análisis cualitativos o cuantitativos, análisis de la estructura cristalina y otros materiales policristalinos, como muestras de polvo y muestras de metal. Se utiliza ampliamente en industrias como la industria, la agricultura, la defensa nacional, los productos farmacéuticos, los minerales, la seguridad alimentaria, el petróleo, la educación y la investigación científica.

El difractómetro de rayos X se utiliza principalmente para el análisis cualitativo y cuantitativo de fases, el análisis de la estructura cristalina, el análisis de la estructura del material, el análisis de la orientación de los cristales, la determinación de la tensión macroscópica o microscópica, la determinación del tamaño del grano, la determinación de la cristalinidad, etc. de muestras de polvo, bloques o películas. Producido por Dandong Tongda Technology Co., Ltd. adopta el control PLC de Siemens importado, lo que hace que el difractómetro de rayos X TD-3500 tenga las características de alta precisión, alta precisión, buena estabilidad, larga vida útil, fácil actualización, fácil operación e inteligencia, y puede adaptarse de manera flexible al análisis de pruebas y la investigación en varias industrias.

El difractómetro de rayos X de alta resolución de la serie TD-3700 es un nuevo miembro de la serie TD, equipado con una variedad de detectores de alto rendimiento, como detectores de matriz unidimensional de alta velocidad, detectores bidimensionales, detectores SDD, etc. Integra análisis rápido, operación conveniente y seguridad para el usuario. La arquitectura de hardware modular y el sistema de software personalizado logran una combinación perfecta, lo que hace que su tasa de falla sea extremadamente baja, el rendimiento antiinterferencia sea bueno y garantiza un funcionamiento estable a largo plazo de la fuente de alimentación de alto voltaje.

El difractómetro monocristalino de rayos X TD-5000 se utiliza principalmente para determinar la estructura espacial tridimensional y la densidad de nubes de electrones de sustancias cristalinas como complejos inorgánicos, orgánicos y metálicos, y para analizar la estructura de materiales especiales como maclado, cristales no conmensurables, cuasicristales, etc. Determine el espacio tridimensional preciso (incluyendo longitud de enlace, ángulo de enlace, configuración, conformación e incluso densidad de electrones de enlace) de nuevas moléculas compuestas (cristalinas) y la disposición real de las moléculas en la red; Puede proporcionar información sobre los parámetros de la celda cristalina, el grupo espacial, la estructura molecular cristalina, el enlace de hidrógeno intermolecular y las interacciones débiles, así como información estructural como la configuración y conformación molecular. Se utiliza ampliamente en la investigación analítica en cristalografía química, biología molecular, farmacología, mineralogía y ciencia de los materiales.

Originalmente, Battery Accessory es un dispositivo utilizado para la investigación de sistemas electroquímicos, perteneciente a los accesorios de difractómetro de rayos X, que permite el monitoreo y análisis dinámico y en tiempo real de la batería en condiciones específicas. Se utiliza ampliamente en sistemas electroquímicos que contienen carbono, oxígeno, nitrógeno, azufre, complejos metálicos incrustados, etc.

El accesorio de medición integrado multifuncional es un accesorio de instrumento que puede medir múltiples parámetros. Es un accesorio de medición para difractómetros de rayos X, que se utiliza principalmente para mejorar la eficiencia de la medición, aumentar las funciones de medición y mejorar el mantenimiento del instrumento. Se utiliza para el análisis y la prueba de diversos materiales en campos como la ingeniería química, la maquinaria, la geología, los minerales, la metalurgia, los materiales de construcción, la cerámica, la petroquímica, los productos farmacéuticos, etc. Los accesorios de medición integrados multifuncionales desempeñan un papel importante en varios campos, proporcionando un fuerte apoyo a la investigación científica y la producción industrial.

El difractómetro de rayos X TDM-20 se utiliza principalmente para el análisis de fases de polvos, sólidos y materiales similares de tipo pastoso. El difractómetro de rayos X se puede utilizar para análisis cualitativos o cuantitativos, análisis de la estructura cristalina y otros materiales policristalinos, como muestras de polvo y muestras de metal. El difractómetro de rayos X se utiliza ampliamente en industrias como la industria, la agricultura, la defensa nacional, los productos farmacéuticos, los minerales, la seguridad alimentaria, el petróleo, la educación y la investigación científica. El XRD de sobremesa es un equipo experimental que se utiliza para analizar la estructura cristalina de los materiales. El XRD de sobremesa determina la estructura cristalina, los parámetros de red y la composición de fases del material mediante la emisión de rayos X y la medición del ángulo de difracción y la intensidad después de su interacción con la muestra.

El difractómetro de rayos X se utiliza principalmente para el análisis cualitativo y cuantitativo de fases, el análisis de la estructura cristalina, el análisis de la estructura del material, el análisis de la orientación de los cristales, la determinación de la tensión macroscópica o microscópica, la determinación del tamaño del grano, la determinación de la cristalinidad, etc. de muestras de polvo, bloques o películas. El difractómetro de rayos X TD-3500 producido por Dandong Tongda Technology Co., Ltd. adopta el control PLC de Siemens importado, lo que hace que el difractómetro de rayos X TD-3500 tenga las características de alta precisión, alta precisión, buena estabilidad, larga vida útil, fácil actualización, fácil operación e inteligencia, ¡y puede adaptarse de manera flexible al análisis de pruebas e investigación en varias industrias! Es una poderosa herramienta analítica ampliamente utilizada en campos como la ciencia de los materiales, la química, la física y la geología.

El difractómetro de rayos X TD-3700 es un nuevo miembro de la serie TD, equipado con una variedad de detectores de alto rendimiento, como detectores de matriz unidimensional de alta velocidad, detectores bidimensionales, detectores SDD, etc. Integra análisis rápido, operación conveniente y seguridad para el usuario. La arquitectura de hardware modular y el sistema de software personalizado logran una combinación perfecta, lo que hace que su tasa de falla sea extremadamente baja, el rendimiento antiinterferencia sea bueno y garantiza un funcionamiento estable a largo plazo de la fuente de alimentación de alto voltaje. El difractómetro de polvo de rayos X TD-3700 admite métodos de escaneo de datos de difracción convencionales y de escaneo de datos de transmisión. El difractómetro de rayos X en polvo TD-3700, con todas las ventajas del difractómetro de rayos X TD-3500, está equipado con detectores de alto rendimiento. En comparación con los detectores de centelleo o los detectores proporcionales, la intensidad del cálculo de difracción se puede aumentar varias decenas de veces y se pueden obtener patrones de difracción completos de alta sensibilidad y alta resolución y una mayor intensidad de conteo en un período de muestreo más corto.