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En los últimos años, con la demanda de energía limpia y el desarrollo de una economía con cero emisiones netas de gases de efecto invernadero, el campo de la electrocatálisis ha atraído un gran interés.

Los principales indicadores de los materiales poliméricos incluyen el tipo de polímero o su cristalinidad. Los polímeros también exhiben una microestructura diferente, que también puede afectar las propiedades mecánicas de los materiales poliméricos.

La difracción de rayos X (DRX) es un medio de investigación para obtener información como la composición de un material, la estructura o forma de un átomo o molécula interna analizando su patrón de difracción mediante difracción de rayos X.

Los cristales, aunque admirados durante mucho tiempo por su regularidad y simetría, no se estudiaron científicamente hasta el siglo XVII. Echemos un vistazo a la historia temprana de la cristalografía.

Utilizando el principio de difracción de rayos X, el ángulo de corte de monocristales naturales y artificiales se determina de forma precisa y rápida, y la máquina de corte está equipada para el corte direccional de dichos cristales.

El método de ayudar a la tensión interna sin energía adicional propuesto en este artículo proporciona una nueva estrategia económica y conveniente para mejorar la dinámica de reacción de la batería.

XRD puede medir muestras a granel y en polvo, y tiene diferentes requisitos para diferentes tamaños y propiedades de muestras.

Tomando como ejemplo el escalamiento de la deposición, este artículo presenta cómo utilizar el difractómetro de rayos X para el análisis cuantitativo y de fase cualitativa.

La aplicación de nuevas tecnologías y nuevos productos como 5G, big data e inteligencia artificial generará una enorme demanda en el mercado de semiconductores, y el gasto mundial en equipos de semiconductores ha entrado en un ciclo ascendente.

XRD de alta resolución (HR-XRD) es un método común para medir la composición y el espesor de semiconductores compuestos como SiGe, AlGaAs, InGaAs, etc.