news

XAFS, como técnica de caracterización avanzada para el análisis de la estructura local de materiales, puede proporcionar información de coordinación de la estructura atómica más precisa en el rango estructural de corto alcance que la difracción de cristales de rayos X.

La espectroscopia de difracción de rayos X analiza principalmente el estado del cristal y la microestructura de los materiales, y existen dos métodos de medición de difracción de rayos X para el análisis de cristales.

La tecnología Micro-CT tiene importantes ventajas en la caracterización de cerámicas, ya que puede revelar la estructura compuesta dentro del material sin dañarla y restaurar la tecnología clave en la producción de cerámicas.

Micro-xrd puede analizar el estado original de la muestra y realizar análisis de fase de varias partes de la muestra. En este artículo, se toma como ejemplo una muestra geológica de lapislázuli para ilustrar mejor el efecto de la microdifracción.

La tecnología de rayos X desempeña un papel vital en la investigación médica y científica, y los avances recientes en la tecnología de rayos X están permitiendo haces e imágenes más brillantes y potentes de sistemas cada vez más complejos en condiciones del mundo real.

Los cristales, aunque admirados durante mucho tiempo por su regularidad y simetría, no se estudiaron científicamente hasta el siglo XVII. Echemos un vistazo a la historia temprana de la cristalografía.

En los últimos años, ha habido un interés creciente en la medición de muestras biológicas de alta presión. Esto se refleja en el desarrollo de nuevas técnicas de medición de presión diferentes a las implementadas por DAC. Una de ellas es la técnica de congelar cristales bajo presión.

El analizador de cristales de rayos X es un tipo de instrumento analítico grande para estudiar la microestructura interna de sustancias, utilizado principalmente en la orientación de un solo cristal, detección de defectos, determinación de tensión residual, dislocación de un solo cristal, etc.