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Mediante la difracción de rayos X del material y el análisis de su patrón de difracción se obtiene información como la composición del material, la estructura o morfología de los átomos o moléculas internas.

En este artículo, analizamos brevemente uno (en realidad dos) defectos cristalinos, una falla y una falla de capa en estas tres estructuras cristalinas. Otras estructuras cristalinas también tienen fallas y fallas de capas.

La tecnología de rayos X desempeña un papel vital en la investigación médica y científica, y los avances recientes en la tecnología de rayos X están permitiendo haces e imágenes más brillantes y potentes de sistemas cada vez más complejos en condiciones del mundo real.

El espacio tridimensional de los átomos está organizado en un orden de largo alcance, y la unidad más pequeña de disposición repetida se llama celda, que se puede dividir en 7 tipos de sistemas cristalinos, 14 tipos de redes y 230 tipos de grupos espaciales. según la ley de arreglos.

El difractómetro monocristalino de rayos X Dandong Tongda TD-5000 ganó el "Premio 3i de instrumento y detección ACCSI2023 - Premio anual al nuevo producto destacado de la industria de instrumentos científicos 2022".

Los cristales, aunque admirados durante mucho tiempo por su regularidad y simetría, no se estudiaron científicamente hasta el siglo XVII. Echemos un vistazo a la historia temprana de la cristalografía.

Utilizando el principio de difracción de rayos X, el ángulo de corte de monocristales naturales y artificiales se determina de forma precisa y rápida, y la máquina de corte está equipada para el corte direccional de dichos cristales.

La tecnología de difracción de rayos X se utiliza ampliamente en la investigación de baterías de iones de litio. XRD es un método convencional para el análisis cualitativo y cuantitativo de fases en materiales.