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El accesorio para altas temperaturas de Dandong Tongda es un instrumento de precisión diseñado específicamente para la investigación de materiales en entornos de alta temperatura. Permite la observación y el análisis en tiempo real de muestras bajo estas condiciones, lo que ayuda a los investigadores a obtener información sobre los cambios dinámicos de los materiales a temperaturas elevadas. El accesorio de alta temperatura Dandong Tongda demuestra un rendimiento técnico excepcional, capaz de satisfacer las demandas de la mayoría de los entornos experimentales de alta temperatura. Dependiendo del entorno experimental, el rango de temperatura del accesorio varía: en una atmósfera de gas inerte, la temperatura puede oscilar entre la temperatura ambiente y 1200 °C; en un entorno de vacío, la temperatura máxima puede alcanzar los 1600 °C. Este amplio rango de temperaturas permite que el accesorio se adapte a diversos escenarios de investigación complejos, brindando un soporte técnico integral para el estudio del comportamiento de los materiales a altas temperaturas. En cuanto al control de temperatura, el accesorio también funciona excepcionalmente bien, con una precisión de hasta ±0,5 °C. Esto garantiza una alta estabilidad durante los experimentos, ofreciendo una sólida garantía para la exactitud y la reproducibilidad de los datos experimentales. El diseño y la construcción del accesorio para altas temperaturas reflejan un equilibrio entre profesionalismo y practicidad. Este accesorio utiliza una película de poliéster como material de la ventana, una elección que garantiza una buena claridad de observación y estabilidad en entornos de alta temperatura. El sistema de refrigeración emplea refrigeración por circulación de agua desionizada, lo que garantiza eficazmente el funcionamiento estable del equipo en condiciones prolongadas de alta temperatura y extiende su vida útil. Este diseño tiene en cuenta los requisitos de los experimentos de larga duración a altas temperaturas, lo que permite a los investigadores realizar observaciones continuas sin preocuparse por el sobrecalentamiento del equipo. Ya sea para estudiar las transiciones de fase de la estructura cristalina, el comportamiento de expansión térmica de los materiales u observar las reacciones químicas de los materiales a altas temperaturas, este accesorio puede proporcionar datos experimentales intuitivos y precisos.

Desde su fundación en 2010, Dandong Tongda Science & Technology Co., Ltd. se ha centrado en la investigación, el desarrollo y la producción de instrumentos analíticos de rayos X y equipos de ensayos no destructivos. La empresa cuenta con una amplia experiencia en tecnología de rayos X. En 2013, se convirtió en la unidad responsable del "Proyecto Nacional de Desarrollo de Instrumentos y Equipos Científicos Principales" para el difractómetro monocristalino de rayos X, financiado por el Ministerio de Ciencia y Tecnología de China. El sistema de enfriamiento de nitrógeno líquido de baja temperatura Cryostream, lanzado por Dandong Tongda Science & Technology, es un producto representativo de su accesorio de temperatura media-baja. Este sistema está diseñado específicamente para experimentos científicos que requieren entornos precisos de baja temperatura e integra múltiples tecnologías avanzadas. El control preciso de la temperatura es la principal ventaja del sistema. El accesorio de temperatura media-baja puede mantener una estabilidad de temperatura de hasta 0,3 K dentro del rango estándar de 100 a 300 K. Esta alta estabilidad de temperatura proporciona un entorno fiable para experimentos científicos, garantizando la precisión y reproducibilidad de los datos experimentales. Su eficiente rendimiento de refrigeración es otro punto a destacar. El sistema solo necesita 35 minutos para enfriarse desde temperatura ambiente hasta 100 K. Esta rápida velocidad de enfriamiento mejora significativamente la eficiencia del trabajo de los investigadores, lo que lo hace especialmente adecuado para escenarios experimentales que requieren cambios frecuentes de temperatura. ​ El sistema de control inteligente simplifica la operación. Mediante un algoritmo de control de temperatura PID difuso, el sistema logra un control preciso y estable en tiempo real de la temperatura del gas nitrógeno a baja temperatura. Este enfoque de control inteligente reduce considerablemente la complejidad operativa, permitiendo a los investigadores centrarse más en los experimentos en sí que en los ajustes del equipo.

El tubo de rayos X del difractómetro fabricado por Dandong Tongda Technology Co., Ltd. sirve como componente central en numerosos instrumentos analíticos de rayos X en China. El tubo de rayos X del difractómetro de Dandong Tongda presenta principalmente las siguientes características técnicas: Diversas opciones de materiales de objetivo: Este tubo de rayos X ofrece una variedad de materiales de objetivo, incluyendo Cu, Co, Fe, Cr, Mo, Ti, W y más. Los usuarios pueden seleccionar el material de objetivo más adecuado según la composición elemental del material analizado y los requisitos específicos del análisis para obtener resultados analíticos óptimos. Configuraciones flexibles del punto focal: El producto ofrece diferentes tamaños de punto focal, como 0,2×12 mm, 0,4×14 mm (enfoque fino) y 1×10 mm. Los puntos focales más pequeños mejoran la resolución espacial, mientras que los diferentes diseños de forma satisfacen los requisitos del sistema óptico de diversos instrumentos analíticos, como XRD y XRF. Amplio rango de potencia: La potencia de salida máxima del tubo de rayos X cubre múltiples niveles, incluidos 2,0 kW, 2,4 kW y 2,7 ​​kW, lo que le permite adaptarse a diversos escenarios de aplicación, desde análisis de rutina hasta aquellos que requieren alta potencia. Tecnologías clave y rendimiento Tecnología avanzada de generador: El generador de alta frecuencia y alto voltaje, diseñado para el tubo de rayos X, alcanza una potencia de salida máxima de 5 kW. Utiliza control automático por microcomputadora, con una precisión de ajuste de voltaje del tubo de hasta 1 kV por paso y una precisión de ajuste de corriente del tubo de hasta 1 mA por paso, lo que garantiza señales de salida precisas y estables. Rendimiento de estabilidad excepcional: La estabilidad de salida del generador es superior al 0,01 %. La estabilidad integral de algunos modelos de gama alta puede incluso alcanzar ≤0,3 %. Este alto nivel de estabilidad es crucial para trabajos analíticos de precisión que requieren la adquisición de datos a largo plazo. Protección de seguridad integral: el equipo está equipado con amplios dispositivos de alarma y protección, que incluyen múltiples funciones de protección como sobretensión, sobrecorriente, sobrepotencia, escasez de agua y sobretemperatura del tubo de rayos X, lo que garantiza un funcionamiento seguro y confiable. Principales áreas de aplicación Los tubos de rayos X de Dandong Tongda se utilizan principalmente en los siguientes tipos de instrumentos analíticos: Difractómetros de rayos X (XRD): se utilizan para el análisis de fases de materiales, determinación de la estructura cristalina, etc. Espectrómetros de fluorescencia de rayos X (XRF): se utilizan para análisis elemental cualitativo y cuantitativo. Analizadores y orientadores de cristales: se pueden utilizar para la orientación de monocristales, inspección de defectos, etc.

La función principal del monocromador de cristal curvo de grafito es filtrar con precisión la radiación característica Kα deseada de las señales complejas de rayos X. Este proceso se basa en el principio de difracción de Bragg, que utiliza la disposición precisa y la forma curva de la red cristalina de grafito para lograr la transmisión selectiva de rayos X. En aplicaciones prácticas, este componente elimina eficazmente la interferencia de rayos X continuos, radiación Kβ y radiación fluorescente generada por la propia muestra. Este efecto de filtrado es especialmente significativo al analizar muestras que contienen elementos como manganeso, hierro, cobalto y níquel mediante tubos de rayos X con diana de cobre. Dandong Tongda ofrece cristales curvos y planos de grafito. El uso de monocromadores de cristal curvo de grafito permite mejorar la relación pico-fondo, reducir el ruido de fondo, mejorar la resolución de picos débiles, lograr una eficiencia de reflexión de n ≥ 35 % y disminuir el ángulo de difracción del difractómetro. La dispersión del mosaico es ≤ 0,55° y la superficie del cristal puede inclinarse ±2°. Estos parámetros garantizan el rendimiento estable del instrumento durante un uso prolongado. En el análisis de rayos X, la calidad de los datos influye directamente en la fiabilidad de las conclusiones de la investigación. El monocromador de cristal curvo de grafito mejora significativamente la calidad de las señales recopiladas al optimizar la relación pico-fondo y reducir el ruido de fondo. Para aplicaciones de difractómetro, este componente también reduce moderadamente el ángulo de difracción, lo que permite distinguir mejor los picos débiles y mejora la capacidad del instrumento para resolver componentes traza. Si bien esta mejora puede parecer insignificante, puede ser crucial en experimentos clave. Valor de la aplicación El monocromador de cristal curvo de grafito demuestra un amplio valor de aplicación en la protección del medio ambiente y la electrónica. Es adecuado no solo para la investigación fundamental, sino que también satisface las necesidades analíticas y de control de calidad en la producción industrial. Al trabajar en sinergia con los sistemas de difracción de rayos X, este componente proporciona un soporte de datos confiable para la ciencia de los materiales, la investigación química y las pruebas industriales. ​ Cuando se utiliza junto con tubos de rayos X con objetivo de cobre, aborda eficazmente los desafíos analíticos para una variedad de tipos de muestras.

En el análisis de difracción de rayos X, las muestras de película delgada presentan importantes desafíos debido a su espesor extremadamente reducido, señales débiles y su frecuente adhesión al sustrato. Los métodos de prueba tradicionales son propensos a la interferencia de las señales del sustrato, lo que provoca que las señales de la propia película delgada queden enmascaradas o distorsionadas. El diseño principal del accesorio de película delgada de haz paralelo reside en aumentar la longitud de las láminas de la rejilla para filtrar los rayos más dispersos. Este enfoque ofrece dos ventajas significativas: Reduce la interferencia de la señal del sustrato: suprime eficazmente las señales no objetivo que se originan en el sustrato de la muestra. Mejora la intensidad de la señal de la película delgada: hace que las señales analíticas de la película delgada objetivo sean más prominentes, lo que produce resultados de análisis más claros y precisos. Campos de aplicación: El accesorio de película delgada de haz paralelo se aplica principalmente en campos de vanguardia como la protección ambiental y la electrónica. En estas industrias, el rendimiento de los materiales de película delgada suele determinar directamente la calidad del producto final. Por ejemplo, en la industria electrónica, diversas películas delgadas funcionales se utilizan ampliamente en productos como dispositivos semiconductores, pantallas y células solares. La estructura cristalina, la orientación y el estado de tensión de las películas delgadas influyen significativamente en sus propiedades eléctricas, ópticas y mecánicas. Mediante el uso de la fijación de película delgada de haz paralelo, los investigadores pueden evaluar estos parámetros clave con mayor precisión, lo que proporciona un sólido soporte para el desarrollo de productos y el control de calidad. ​ Dandong Tongda Science and Technology Co., Ltd. es una empresa nacional de alta tecnología especializada en la producción de instrumentos de análisis de rayos X y equipos de ensayos no destructivos. También fue la unidad ejecutora del "Proyecto Nacional de Desarrollo de Instrumentos y Equipos Científicos de Primera Instancia", iniciado por el Ministerio de Ciencia y Tecnología en 2013. Tongda Science and Technology ha completado la serialización de sus dos principales líneas de productos: instrumentos analíticos e instrumentos de ensayos no destructivos.

El difractómetro de rayos X totalmente automatizado con IA integra a fondo la manipulación de alta precisión de un brazo robótico basado en un difractómetro portátil. En comparación con los difractómetros tradicionales, reduce significativamente la intervención manual, lo que lo hace ideal para escenarios de I+D que requieren pruebas de alto rendimiento y alta repetibilidad. Se puede controlar de forma remota mediante teléfono móvil o aplicación, e incorpora tecnología de apertura y cierre automático de puertas. Gracias a sus capacidades autónomas de muestreo y análisis, ofrece precisión y comodidad.

Los accesorios de fibra utilizan el método de difracción (transmisión) de rayos X para analizar la estructura cristalina única de las fibras. Parámetros como la cristalinidad y el ancho completo a la mitad del máximo (FWHM) se utilizan para determinar el grado de orientación de la muestra. ​ Funciones y características principales de los accesorios de fibra: Mantenimiento de la orientación de las fibras: Este es el aspecto más crítico. Las fibras suelen presentar una alta anisotropía, con cristales alineados preferentemente a lo largo de su eje. Los accesorios de fibra pueden enderezar y fijar los haces de fibras, conservando su orientación original para medir el grado y la distribución de la orientación. Adaptación a diferentes formatos de muestra: Fibra única: Extremadamente delgada, requiriendo abrazaderas o marcos especiales para su fijación. Haz de fibras: múltiples fibras dispuestas en paralelo; los accesorios de fibra deben alinearlas y tensarlas uniformemente. Tejido de fibra: Los materiales como la tela requieren un marco plano para estirarlos y tensarlos. Habilitación de modos de prueba especiales: Modo de transmisión: Adecuado para haces de fibras delgadas o fibras individuales. Los accesorios de fibra incluyen un marco específico para tensar la fibra, lo que permite que los rayos X penetren directamente en la muestra. Modo de reflexión: Se utiliza para haces de fibras o tejidos más gruesos. Los accesorios de fibra proporcionan una superficie de muestra plana para este modo. Portamuestras de fibra: Se trata de un marco sencillo de metal o plástico con ranuras o perillas. Durante el funcionamiento, ambos extremos del haz de fibras se fijan al soporte, y las perillas giran para tensar la fibra, manteniéndola recta y paralela. Todo el soporte puede colocarse en el goniómetro de XRD para realizar pruebas, de forma similar a una muestra estándar. En resumen, los accesorios de fibra para XRD son dispositivos especializados de fijación de muestras, diseñados para analizar muestras fibrosas con estructuras anisotrópicas. Su función principal es mantener y regular la orientación de la fibra, mientras que las versiones avanzadas pueden permitir el estiramiento in situ y otras funciones, proporcionando información crucial sobre la orientación de las estructuras cristalinas en las fibras.

En el campo de la investigación en ciencia de materiales, la medición precisa es clave para descifrar las propiedades de los materiales. El accesorio de medición integrado multifuncional, desarrollado por Dandong Tongda Science and Technology Co., Ltd., es una herramienta de alta precisión diseñada para mejorar las capacidades de análisis por difracción de rayos X. Este accesorio de medición integrado multifuncional está diseñado específicamente para su instalación en goniómetros de gran angular. Su función principal es analizar con precisión materiales en placa, materiales a granel y películas delgadas depositadas sobre sustratos. El accesorio puede realizar diversas tareas de medición, como la detección de fase cristalina, el análisis del grado de orientación y las pruebas de tensión. Es compatible con el análisis de textura, la determinación de la tensión residual y las pruebas de estructura en el plano de películas delgadas, lo que proporciona un amplio soporte de datos para la investigación de materiales. Las principales características técnicas de este accesorio se reflejan en su sistema mecánico de precisión coordinado de múltiples ejes y sus métodos de medición altamente adaptables. El accesorio de medición integrado multifuncional admite mediciones de figuras polares mediante métodos de transmisión o reflexión, lo que ofrece flexibilidad para diferentes muestras y requisitos de prueba. Para las pruebas de tensión, puede emplear tanto el método de inclinación lateral como el de inclinación normal. Para muestras de película delgada, el accesorio también permite realizar pruebas de rotación en el plano, lo que permite un análisis exhaustivo de las estructuras de la película. Su sistema mecánico de precisión asegura una alta precisión de medición y repetibilidad, con incrementos mínimos de paso de 0,001° (para ejes de rotación) y 0,001mm (para ejes de traslación). El alcance de aplicación del accesorio de medición integrado multifuncional es extremadamente amplio y cubre casi todos los campos de fabricación avanzada e I+D que requieren análisis de la estructura del material. En el campo de los materiales metálicos, se utiliza para evaluar la organización colectiva de metales como placas laminadas; en cerámica, se centra en evaluar la orientación de la cerámica. Para materiales de película delgada, el accesorio puede analizar la orientación preferida del cristal de muestras de película y probar la tensión residual de películas multicapa (evaluando propiedades como el desprendimiento de la película). También puede analizar películas de nitruración y oxidación de superficies en películas de materiales superconductores de alta temperatura y placas de metal, así como películas multicapa sobre sustratos de vidrio, silicio y metal. En particular, también se puede aplicar al análisis de materiales macromoleculares, papel, materiales de recubrimiento de lentes y más, lo que demuestra su potencial de aplicación interdisciplinaria. Accesorio de medición

En los campos de la ciencia de materiales y las pruebas industriales, el análisis preciso de muestras depende de instrumentos fiables. La platina giratoria de muestras, fabricada por Dandong Tongda Technology Co., Ltd., es precisamente un accesorio crucial para mejorar la calidad del análisis por difracción de rayos X (DRX). En el análisis de difracción de rayos X, las características de la muestra suelen plantear desafíos. Por ejemplo, cuando los granos son excesivamente gruesos, el material presenta una textura significativa (u "orientación preferente", lo que significa que los granos no están dispuestos aleatoriamente) o la muestra presenta hábitos cristalinos específicos (patrones de crecimiento cristalino), resulta difícil obtener datos de difracción estadísticamente representativos que reflejen fielmente las propiedades generales del material. Al medir estas muestras con plataformas de muestra estáticas tradicionales, la intensidad de difracción puede distorsionarse debido a los factores mencionados, lo que afecta la precisión de la identificación de fase, el análisis de textura y otras evaluaciones. La filosofía de diseño principal de la plataforma de muestra giratoria de Tongda Technology es abordar estos desafíos permitiendo una rotación suave de la muestra dentro de su propio plano. Función principal: eliminar errores de orientación y mejorar la fiabilidad de los datos El principio de funcionamiento de esta platina giratoria para muestras es intuitivo y eficaz. Al accionar la rotación de la muestra de forma continua o gradual, se garantiza que el haz de rayos X cubra más granos con diferentes orientaciones durante la irradiación. Las principales ventajas de este enfoque son: Reducción efectiva de errores de medición: a través del efecto de promedio de rotación, mitiga significativamente las desviaciones de medición causadas por granos gruesos u orientación preferida, haciendo que los datos de difracción sean más representativos de las propiedades generales del material. Garantizar la reproducibilidad de los resultados: independientemente de si la muestra tiene textura o no, garantiza una buena reproducibilidad de la intensidad de difracción en múltiples mediciones o entre diferentes laboratorios, lo que mejora la confiabilidad y la comparabilidad de los datos. Requisitos simplificados de preparación de muestras: reduce hasta cierto punto las estrictas demandas de preparación perfecta de muestras, mejorando la eficiencia del análisis. Especificaciones técnicas: Control de precisión y adaptabilidad flexible La platina de muestra giratoria de Dandong Tongda Technology ofrece los siguientes parámetros técnicos clave para satisfacer las rigurosas demandas de la investigación científica y las pruebas industriales: Descripción del parámetro Método de rotación eje β (la muestra gira dentro de su propio plano) Rango de velocidad de rotación 1 ~ 60 RPM (revoluciones por minuto) Ajustable según requisitos experimentales Precisión de paso Ancho mínimo de paso: 0,1º Admite escaneo de posicionamiento de alta precisión Modos de operación Rotación a velocidad constante (para escaneo de muestras), paso a paso, continuo y otros modos Se adapta a diversos flujos de trabajo de pruebas y necesidades de adquisición de datos. Aplicaciones típicas Control de calidad e I+D en industrias como la protección del medio ambiente y la electrónica. Compatibilidad Se utiliza principalmente como accesorio para espectrómetros de difracción de rayos X (XRD) Escenarios de aplicación: Al servicio de las industrias de protección ambiental y electrónica Esta platina de muestra giratoria no es simplemente una "pieza de exhibición" en el laboratorio; presta servicio directamente a industrias con altos requisitos de análisis de materiales, como la protección del medio ambiente y la electrónica. En áreas como control de calidad, desarrollo de nuevos productos y análisis de fallas en estos campos, ayuda a los ingenieros e investigadores a realizar análisis de fase más precisos en muestras de diversas formas, incluidos polvos, materiales a granel y películas delgadas, lo que garantiza la autenticidad y confiabilidad de los datos.

En el campo de la investigación y el desarrollo de baterías de iones de litio, comprender los cambios dinámicos en la microestructura de los materiales de los electrodos durante los procesos de carga y descarga es crucial. Los métodos tradicionales de detección fuera de línea no pueden capturar estos cambios en tiempo real, mientras que la aparición de técnicas de caracterización in situ proporciona a los investigadores una herramienta poderosa. Aprovechando su experiencia en tecnología de difracción de rayos X (DRX), Dandong Tongda Technology Co., Ltd. ha desarrollado un accesorio in situ para la investigación de baterías, que ofrece una ventana eficiente para explorar los procesos de reacción dentro de la "caja negra" de las baterías. Principio técnico: Monitoreo dinámico de cambios a microescala en materiales de baterías El objetivo principal del diseño del accesorio de batería original de Dandong Tongda es permitir el monitoreo en tiempo real de la evolución de la estructura cristalina de los materiales de los electrodos utilizando tecnología de difracción de rayos X (XRD) mientras la batería está funcionando normalmente (durante la carga y descarga). Este accesorio suele funcionar en sinergia con un sistema de pruebas electroquímicas (como el sistema de pruebas de baterías LAND) y un difractómetro de rayos X (como el modelo TD-3500 de Tongda Tech). Forma una cámara de batería especializada que permite que los rayos X penetren y exploren los materiales de los electrodos de la batería durante su funcionamiento. La clave reside en el diseño de los materiales de las ventanas (como las ventanas de berilio) con tasas de absorción de rayos X extremadamente bajas en los componentes de la batería, lo que garantiza una incidencia y emisión efectivas de rayos X. Simultáneamente, el accesorio integra los electrodos, el aislamiento y los componentes de sellado necesarios para garantizar reacciones electroquímicas normales y mantener un sellado excelente durante las pruebas. Funciones clave y valor de la aplicación El valor de este accesorio de batería in situ radica en su capacidad de ayudar a los investigadores a observar de forma intuitiva y dinámica una serie de cambios microscópicos en los materiales de los electrodos durante los procesos de carga y descarga de la batería: Observación en tiempo real de los procesos de transición de fase: Muchos materiales de electrodos experimentan transiciones de fase durante la intercalación y desintercalación de iones de litio. La difracción de rayos X in situ permite capturar la formación, desaparición y transformación de estas fases en tiempo real, lo cual es crucial para comprender los mecanismos de reacción de la batería. Monitoreo de los cambios en los parámetros de red: Mediante el seguimiento preciso de los cambios en los picos de difracción de XRD, se pueden calcular cambios sutiles en los parámetros de red, que reflejan la expansión y contracción de la red. Esto está estrechamente relacionado con las métricas de rendimiento de la batería, como las plataformas de voltaje y el ciclo de vida. Descubriendo los mecanismos de disminución de la capacidad: La disminución de la capacidad durante el ciclo de la batería suele estar relacionada con la degradación estructural de los materiales de los electrodos, reacciones secundarias y otros factores. El monitoreo in situ puede correlacionar la degradación del rendimiento electroquímico con cambios estructurales, lo que proporciona información directa para mejorar los materiales de la batería y optimizar el diseño. Aceleración del desarrollo de nuevos materiales: para evaluar nuevos materiales de electrodos, la tecnología XRD in situ puede proporcionar rápidamente información clave sobre la estabilidad estructural y las vías de reacción, acelerando el proceso de I+D.