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  • Difractómetro
    Difractómetro
    1. La precisión del difractómetro es alta. 2. El rango de aplicación del difractómetro es amplio. 3. El difractómetro es fácil de operar, conveniente y eficiente.
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  • Difracción de rayos X de monocristal
    Difracción de rayos X de monocristal
    1. La máquina de cristal único adopta tecnología de control PLC. 2. Diseño modular, accesorios plug and play. 3. Equipo electrónico de enclavamiento de puertas con doble protección. 4. Tubo de rayos X de cristal único: se puede seleccionar una variedad de blancos, como Cu, Mo, etc. 5. El cristal único adopta una tecnología concéntrica de cuatro círculos para garantizar que el centro de ningún goniómetro permanezca inalterado.
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  • Analizador de cristales de rayos X en serie
    Analizador de cristales de rayos X en serie
    1. El instrumento de rayos X es fácil de operar y rápido para detectar. 2. El instrumento de rayos X es preciso y fiable, con un rendimiento excelente. 3. El aparato de rayos X cuenta con diversos accesorios funcionales para satisfacer las necesidades de diferentes propósitos de prueba.
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  • Un difractómetro de rayos X 2D
    Un difractómetro de rayos X 2D
    Ventajas: Profundidad de penetración de rayos X continuamente ajustable Capacidad de observar la distribución de planos cristalinos con diferentes orientaciones. Análisis de la distribución de la orientación en muestras como fibras, películas delgadas y polvos. Examen de características estructurales como la distorsión reticular y el tamaño de los cristalitos.
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La aplicación de XRD en refractarios.

2023-12-12

1.Compruebe la pureza de las materias primas.

Por ejemplo, se puede agregar polvo de sílice al silicio metálico como silicio, se puede agregar corindón marrón como extremo de una botella de vino marrón, se puede agregar polvo de aluminio metálico como sólido después de triturar el aluminio fundido y se puede agregar espinela de Mg-Al como MgO.

diffraction

                                                  Higo(A)

XRD

                                                                 Higo(B)

EldifracciónEl diagrama de espectro (A) del polvo de Si puro se puede ver en la curva XRD. La curva de difracción del polvo de Si con SiO2 agregado se muestra en la Figura (B).


2. Control del proceso de producción

El proceso de producción de refractario requiere un control de la temperatura y tiempo del proceso de producción para obtener el producto objetivo sin impurezas.XRDpuede ayudar a los usuarios a confirmar si tienen el producto deseado.

diffraction

                                                    Higo(C)

Como se muestra en la Figura (C), se encontró que el producto contenía ZrTiO4 (el pico correspondiente a la línea vertical amarilla) mediante inspección XRD.


3. Análisis del contenido de ingredientes del producto.

El contenido de fase cristalina, fase amorfa y solución sólida se puede analizar medianteXRDcurva.

XRD






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