Difracción de rayos X convencional de polímeros
Los rayos X convencionales se utilizan a menudo para caracterizar la cristalinidad del polímero o la información sobre la igualdad de materiales. Elcristalinidaddel polímero es un parámetro estructural estrechamente relacionado con sus propiedades físicas. A veces, es posible determinar la causa de rigidez insuficiente, grietas, blancura y otros defectos evaluando la cristalinidad. El método para medir la cristalinidad mediantedifracción de rayos Xy se describe el ajuste de espectro completo y se dan algunos ejemplos.
Relación entre el área del pico de difracción cristalina y el área total de la señal dispersa
El patrón XRD de PP-PP y los resultados del cálculo de la cristalinidad mediante la separación de picos cristalinos y amorfos mediante el método de ajuste de espectro completo
Polímero 2D/difracción de rayos X
En el caso de los materiales poliméricos, se añaden en fibras, láminas u otras formas. La diferencia en el método de procesamiento o la tecnología de procesamiento conducirá a una gran diferencia en su estado y orientación de cristalización. La prueba de difracción de rayos X convencional no puede caracterizar todas las características estructurales. El modo de transmisión del detector 2D (XRD) proporciona información estructural intuitiva y completa sobre materiales poliméricos. A continuación, se probaron muestras de PP de diferentes estados mediante análisis bidimensionales.difractómetro de rayos X, que demostró plenamente las ventajas de la difracción bidimensional en el análisis de polímeros.
Mapa de rayos X bidimensional de la muestra de PP PP1#- estado amorfo PP2#- estado semicristalino no orientado
Análisis de orientación
Los picos (040) de las muestras PP3# solo existen en dos direcciones en el mapa bidimensional. Al integrar el pico (040) de la muestra con 2theta, se puede obtener el diagrama de azimut de la intensidad del pico (040), y la orientación se puede calcular aún más utilizando la media altura y el ancho del pico del diagrama de azimut.
