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+86-415-6123805La detección cualitativa XRD es conveniente, rápida y con menos interferencias. Con la continua innovación de los medios técnicos, la tecnología de difracción de rayos X tiene una perspectiva de aplicación más amplia en el campo del análisis de materiales.
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XRD utiliza rayos X monocromáticos como fuente de difracción, que generalmente pueden penetrar el sólido para verificar su estructura interna. XRD proporciona información sobre la estructura de fase masiva del material.
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Desde la década de 1990, la tecnología de imágenes por tomografía de rayos X con radiación sincrotrón se ha utilizado ampliamente en la investigación de materiales.
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La espectroscopia de absorción de rayos X es una técnica espectral para analizar la composición elemental y los estados electrónicos de los materiales mediante el uso de los cambios de señal antes y después de la incidencia de los rayos X de radiación sincrotrón.
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La radiación de sincrotrón es la radiación electromagnética producida a lo largo de la dirección tangente de la órbita cuando el electrón se mueve en una curva de alta velocidad, que puede usarse para llevar a cabo muchas investigaciones científicas y tecnológicas avanzadas.
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En la actualidad, XAFS se ha aplicado en muchos campos, especialmente en el campo de la catálisis y la investigación de materiales de baterías, y se ha convertido en un importante método de caracterización precisa.
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Cuando se utilizan materiales de grafito como materiales de electrodos negativos para baterías de litio, una de las condiciones necesarias para el grado de grafitización.
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En 1912, Laue et al. La teoría predijo y confirmó experimentalmente que la difracción puede ocurrir cuando los rayos X se encuentran con el cristal, lo que demuestra que los rayos X tienen la propiedad de una onda electromagnética, lo que se convirtió en el primer hito en la difracción de rayos X.
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La difracción de rayos X es una técnica analítica no destructiva de uso común que se puede utilizar para revelar la estructura cristalina, la composición química y las propiedades físicas de sustancias.
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Difracción de rayos X, a través de la difracción de rayos X de un material, el análisis de su patrón de difracción, para obtener la composición del material, la estructura o forma de los átomos o moléculas dentro del material y otros medios de investigación.
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