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  • Difractómetro
    Difractómetro
    1. La precisión del difractómetro es alta. 2. El rango de aplicación del difractómetro es amplio. 3. El difractómetro es fácil de operar, conveniente y eficiente.
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  • Difracción de rayos X de monocristal
    Difracción de rayos X de monocristal
    1. La máquina de cristal único adopta tecnología de control PLC. 2. Diseño modular, accesorios plug and play. 3. Equipo electrónico de enclavamiento de puertas con doble protección. 4. Tubo de rayos X de cristal único: se puede seleccionar una variedad de blancos, como Cu, Mo, etc. 5. El cristal único adopta una tecnología concéntrica de cuatro círculos para garantizar que el centro de ningún goniómetro permanezca inalterado.
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  • Analizador de cristales de rayos X en serie
    Analizador de cristales de rayos X en serie
    1. El instrumento de rayos X es fácil de operar y rápido para detectar. 2. El instrumento de rayos X es preciso y fiable, con un rendimiento excelente. 3. El aparato de rayos X cuenta con diversos accesorios funcionales para satisfacer las necesidades de diferentes propósitos de prueba.
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  • Un difractómetro de rayos X 2D
    Un difractómetro de rayos X 2D
    Ventajas: Profundidad de penetración de rayos X continuamente ajustable Capacidad de observar la distribución de planos cristalinos con diferentes orientaciones. Análisis de la distribución de la orientación en muestras como fibras, películas delgadas y polvos. Examen de características estructurales como la distorsión reticular y el tamaño de los cristalitos.
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Principios y aplicaciones de XRD

2024-04-05

difracción de rayos X, a través deldifracción de rayos X de un material, el análisis de su patrón de difracción, para obtener la composición del material, la estructura o forma de los átomos o moléculas dentro del material y otros medios de investigación.


Pasos del análisis XRD

1.Preparación del material: Se prepara una muestra del material a analizar y se coloca en undifractómetro de rayos Xpara analizar.

2.Dibujo de patrón XRD: el software de análisis XRD se utiliza para dibujar el patrón obtenido.difracciónpatrón para obtener la composición, estructura y morfología del material.

3.Análisis de picos: al analizar la relación de altura e intensidad del pico A y el pico B en el patrón XRD, se puede determinar información como la masa atómica relativa, la estructura y los enlaces químicos en el material.

4.Análisis del contenido de cristales: analizando el contenido de cristales de diferentes porcentajes atómicos, se puede determinar información como la pureza y cristalinidad del material.

X-ray diffraction

Software de análisis XRD:

Incluyendo searchmatch, highscore, xrdfind y otros programas, los usuarios pueden elegir utilizarlos según sus diferentes necesidades. Por ejemplo, searchmatch es un poderosoXRDSoftware de análisis que puede conectarse directamente con los datos experimentales originales y calibrar automática o manualmente la posición de los picos de difracción. Highscore puede llamar a más formatos de datos, configuraciones de ventana más fáciles de usar y tiene la función de generar informes de experimentos automáticamente. xrdfind es rápido y fácil de usar y puede usarse para procesamiento de datos y análisis visual.

diffraction



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