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+86-415-6123805La XRD de haz paralelo de cristales ópticos de rayos X se ha aplicado con éxito en análisis de películas delgadas, evaluación de textura de muestras, monitoreo de estructura y fase cristalina, etc.
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Las pruebas no destructivas de CT industrial son el juicio de defectos internos, defectos estructurales, física y composición del producto en el estado original y el rendimiento de la pieza de trabajo sin destruir ni cambiar las materias primas.
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La tecnología Micro-CT tiene importantes ventajas en la caracterización de cerámicas, ya que puede revelar la estructura compuesta dentro del material sin dañarla y restaurar la tecnología clave en la producción de cerámicas.
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Debido a las diferentes condiciones de cristalización, las partículas de las muestras de fármacos en polvo tendrán diferentes morfologías.
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Investigadores de la instalación de radiación sincrotrón SPring-8 del Instituto de Investigación RIKEN en Japón y sus colaboradores han desarrollado una forma más rápida y sencilla de realizar análisis de segmentación, un proceso importante en la ciencia de materiales.
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Los investigadores han desarrollado una técnica de imágenes de rayos X que produce imágenes detalladas de organismos con dosis de rayos X mucho más bajas de lo que era posible anteriormente.
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XRD como medio de análisis cualitativo no es ciego, con la ayuda de software de análisis solo por conveniencia, fundamentalmente hablando, lo más importante es el patrón XRD en sí.
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Como nueva tecnología de caracterización de materiales, PDF (función de distribución de pares) es útil en el estudio de la estructura local de materiales cristalinos y amorfos.
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La estabilidad estructural de SBA-15 está estrechamente relacionada con el tamaño de sus poros y sus propiedades, y XRD es uno de los métodos eficaces para caracterizar su estructura.
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Para determinar si hay amianto en el talco suele ser una combinación de microscopía polarizada o electrónica y difracción de rayos X, y el análisis cuantitativo del amianto utiliza principalmente el método de difracción de rayos X.
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