Los rayos X son un tipo de radiación electromagnética muy utilizada en el campo médico e industrial. Aunque la mayoría de los rayos X se producen artificialmente, también existen algunos fenómenos en la naturaleza que producen rayos X.

Basado en la Ley de Bragg, la difracción de rayos X (DRX) in situ se puede utilizar para monitorear el cambio de fase y sus parámetros reticulares en el electrodo o en la interfaz electrodo-electrolito en tiempo real durante el ciclo de carga-descarga de un batería.

La prueba de rayos X es un método de prueba no destructivo que no daña el objeto en sí y se ha utilizado ampliamente en pruebas de materiales (QC), análisis de fallas (FA), control de calidad (QC), garantía de calidad y confiabilidad (QA/ Control de calidad), investigación y desarrollo (I+D) y otros campos.

A continuación se comparten tres detectores de un solo punto: contador proporcional, contador de centelleo y detector de estado sólido semiconductor.

Difracción de rayos X, a través de la difracción de rayos X de un material, el análisis de su patrón de difracción, para obtener la composición del material, la estructura o forma de los átomos o moléculas dentro del material y otros medios de investigación.

Los instrumentos XRF utilizan rayos X para "excitar" un material con el fin de caracterizar su composición identificando elementos en la muestra (análisis cualitativo) o determinando la resistencia de un elemento en la muestra (análisis cuantitativo).

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La difracción de rayos X es el medio más efectivo y más utilizado, y la difracción de rayos X es el primer método utilizado por los humanos para estudiar la microestructura de la materia.