



Correo electrónico
firefly@tongdatek.comTeléfono
+86-415-6123805La difracción de rayos X (DRX) permite un control de calidad preciso y no destructivo en la producción de cemento: análisis de materia prima, análisis de clínker (p. ej., C3S, C2S, CaO libre), pruebas de producto terminado, investigación de hidratación y coprocesamiento de residuos sólidos. La serie TD de Dandong Tongda ofrece soluciones estables y fáciles de usar para la fabricación de cemento ecológico.
Correo electrónicoMás
El grafito es fundamental para la energía y las baterías. Su cristalinidad y grafitización influyen en su rendimiento. El sistema de difracción de rayos X (DRX) de Dandong Tongda analiza el grafito natural y sintético, calcula el espaciado interlaminar y el grado de grafitización, monitoriza la pureza del ánodo para baterías de iones de litio y detecta impurezas en el grafito industrial.
Correo electrónicoMás
Los analizadores XRD de Dandong Tongda resuelven los principales problemas en el análisis de alúmina, desde la materia prima hasta el producto final. Permiten un análisis rápido de fases (α, γ, θ), cristalinidad, tamaño de cristalita y detección de impurezas en alúmina ultrafina y de alta pureza. Prácticos, precisos y escalables, contribuyen a la optimización de procesos y a la mejora de la calidad del producto.
Correo electrónicoMás
La difracción de rayos X (DRX) permite un control de calidad preciso del talco en polvo, desde la materia prima hasta el producto final, identificando impurezas, garantizando el cumplimiento de las normativas internacionales de seguridad, optimizando el procesamiento y facilitando aplicaciones en diversos sectores. Dandong Tongda ofrece soluciones de DRX estables y de alta precisión, reconocidas a nivel mundial.
Correo electrónicoMás
El amianto es un carcinógeno del Grupo 1. Las normativas internacionales exigen una detección precisa. El sistema de difracción de rayos X (DRX) de Dandong Tongda sigue la ley de Bragg para identificar picos característicos, lo que permite un análisis cualitativo y cuantitativo rápido y preciso. Ofrece una preparación sencilla, alta fiabilidad, amplia aplicabilidad y rentabilidad para aplicaciones en construcción, fricción, medio ambiente y laboratorio.
Correo electrónicoMás
El dióxido de titanio (TiO₂) es un material funcional de alto rendimiento ampliamente utilizado en diversos sectores industriales, y su calidad influye directamente en los resultados de aplicación y la seguridad. Dandong Tongda Technology ofrece servicios integrales de análisis de difracción de rayos X (DRX) de alta precisión para el dióxido de titanio, abarcando la estructura cristalina, la pureza y la detección de impurezas. Los resultados de las pruebas cumplen con los estándares internacionales, proporcionando datos fiables para el control de calidad de la producción y ayudando a las empresas a optimizar sus procesos y mejorar su competitividad global.
Correo electrónicoMás
Tongda Science and Technology desarrolló el primer difractómetro de rayos X de monocristal de China (TD-5000). Ofrece difractómetros, orientadores y analizadores con robótica de IA y control remoto. Cuenta con un 30 % de personal dedicado a I+D y 23 patentes. Exporta a nivel mundial.
Correo electrónicoMás
Tongda ofrece soluciones de difracción de rayos X con servicios personalizados. Sus instalaciones de vanguardia y tecnologías clave hacen que sus productos sean de primer nivel mundial. Se utilizan en numerosos campos. Su equipo de I+D, compuesto por 30 personas, impulsa la mejora continua.
Correo electrónicoMás
La difracción de rayos X (DRX) se utiliza ampliamente en ciencia de materiales, química, biología y geología. Permite el estudio de estructuras cristalinas, cambios de fase, análisis químicos, estructuras proteicas, composición mineral, polimorfos de fármacos, arqueología y control de calidad industrial. La DRX es una técnica no destructiva, de alta precisión y rápida, con una resolución cada vez mayor para estudios dinámicos in situ.
Correo electrónicoMás
El difractómetro de rayos X funciona según la ley de Bragg (2d sinθ = nλ). Al escanear θ y registrar los picos de difracción, revela la estructura cristalina, los parámetros de la red, el tamaño de grano, las tensiones residuales, la composición de fases y otros datos. Es una herramienta fundamental para el análisis de materiales.
Correo electrónicoMás