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Dandong Tongda lanza el TD-Mini, un analizador de estrés de rayos X portátil. Integra una fuente de microenfoque y un detector de área para ofrecer precisión de laboratorio en pruebas in situ. Ideal para los sectores de fabricación industrial, aeroespacial y energético, ofrece mediciones rápidas y fiables.

Dandong Tongda lanza su nuevo Analizador de Tensión Residual TD-RSD. Este avanzado instrumento de rayos X garantiza mediciones de alta precisión y eficiencia, además de la conformidad global para mejorar la seguridad y la calidad en los procesos de fabricación a nivel mundial.

El analizador de cristales de rayos X de la serie TDF de Dandong Tongda representa la innovación de China en instrumentos analíticos de alta gama de desarrollo propio. Ofrece un análisis preciso, seguro y fiable de la estructura cristalina para la ciencia de materiales y la I+D farmacéutica a nivel mundial.

Los orientadores de cristales de rayos X de Dandong Tongda (precisión de ±30 segundos de arco y capacidad de carga de 30 kg) ofrecen una orientación precisa para cristales piezoeléctricos, ópticos, láser y semiconductores. Con modelos especializados y etapas de muestra, estos sistemas respaldan la investigación y la fabricación de cristales a nivel mundial, lo que les ha valido el reconocimiento internacional para los instrumentos de precisión chinos.

El difractómetro de rayos X TD-3500 de Dandong Tongda Science & Technology Co., Ltd. proporciona análisis precisos de materiales para diversas industrias. Su goniómetro de alta precisión y su control PLC patentado garantizan resultados fiables y un manejo intuitivo, ofreciendo una solución versátil para clientes de todo el mundo.

Dandong Tongda, fabricante chino líder, produce orientadores de cristal de rayos X de última generación. Mediante la difracción de rayos X, estos instrumentos permiten la medición precisa del ángulo de corte y el corte direccional de diversos cristales. Modelos clave como el TYX-200 y el TYX-2H8 ofrecen alta precisión (±30″), gran capacidad de muestra, facilidad de uso y detección eficiente. Ampliamente utilizados en los sectores de semiconductores, óptica e investigación, estos instrumentos de primera categoría cuentan con certificación, patentes y se exportan a todo el mundo.

Este accesorio de película delgada para difractómetros de rayos X permite el análisis de alta precisión de películas sobre sustratos. Su óptica optimizada suprime la interferencia del sustrato, optimizando las señales débiles de la película para obtener datos fiables desde nanómetros hasta micrómetros. Esencial para I+D en electrónica, semiconductores y nuevas energías.

El analizador de cristales de rayos X de la serie TDF es un instrumento analítico a gran escala que se utiliza para estudiar la microestructura interna de las sustancias. Se utiliza principalmente para la orientación de monocristales, la inspección de defectos, la determinación de parámetros de red, la determinación de tensiones residuales, el estudio de la estructura de placas y varillas, el estudio de la estructura de sustancias desconocidas y las dislocaciones de monocristales.

El difractómetro de rayos X de alta potencia TDM-20 (XRD de sobremesa) se utiliza principalmente para el análisis de fases de polvos, sólidos y materiales similares de tipo pastoso. El principio de difracción de rayos X se puede utilizar para análisis cualitativos o cuantitativos, análisis de la estructura cristalina y otros materiales policristalinos, como muestras de polvo y muestras de metal. Se utiliza ampliamente en industrias como la industria, la agricultura, la defensa nacional, los productos farmacéuticos, los minerales, la seguridad alimentaria, el petróleo, la educación y la investigación científica.

El difractómetro de rayos X se utiliza principalmente para el análisis cualitativo y cuantitativo de fases, el análisis de la estructura cristalina, el análisis de la estructura del material, el análisis de la orientación de los cristales, la determinación de la tensión macroscópica o microscópica, la determinación del tamaño del grano, la determinación de la cristalinidad, etc. de muestras de polvo, bloques o películas. Producido por Dandong Tongda Technology Co., Ltd. adopta el control PLC de Siemens importado, lo que hace que el difractómetro de rayos X TD-3500 tenga las características de alta precisión, alta precisión, buena estabilidad, larga vida útil, fácil actualización, fácil operación e inteligencia, y puede adaptarse de manera flexible al análisis de pruebas y la investigación en varias industrias.