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  • Difractómetro
    Difractómetro
    1. La precisión del difractómetro es alta. 2. El rango de aplicación del difractómetro es amplio. 3. El difractómetro es fácil de operar, conveniente y eficiente.
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  • Difracción de rayos X de monocristal
    Difracción de rayos X de monocristal
    1. La máquina de cristal único adopta tecnología de control PLC. 2. Diseño modular, accesorios plug and play. 3. Equipo electrónico de enclavamiento de puertas con doble protección. 4. Tubo de rayos X de cristal único: se puede seleccionar una variedad de blancos, como Cu, Mo, etc. 5. El cristal único adopta una tecnología concéntrica de cuatro círculos para garantizar que el centro de ningún goniómetro permanezca inalterado.
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    Analizador de cristales de rayos X en serie
    1. El instrumento de rayos X es fácil de operar y rápido para detectar. 2. El instrumento de rayos X es preciso y fiable, con un rendimiento excelente. 3. El aparato de rayos X cuenta con diversos accesorios funcionales para satisfacer las necesidades de diferentes propósitos de prueba.
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  • Un difractómetro de rayos X 2D
    Un difractómetro de rayos X 2D
    Ventajas: Profundidad de penetración de rayos X continuamente ajustable Capacidad de observar la distribución de planos cristalinos con diferentes orientaciones. Análisis de la distribución de la orientación en muestras como fibras, películas delgadas y polvos. Examen de características estructurales como la distorsión reticular y el tamaño de los cristalitos.
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Los datos de XRD se utilizaron para calcular el tamaño de grano y la densidad de dislocación.

2024-02-23

1.Cálculo del tamaño de grano:

El tamaño de grano es una medida del tamaño de grano en un material. Podemos calcular el tamaño de grano mediante la fórmula de Scherrer. La fórmula se basa en la relación entre el ancho del medio pico deldifracciónpico y tamaño de grano. El tamaño de grano se puede calcular midiendo el ancho del medio pico del pico de difracción.

La expresión común de la fórmula de Scherrer es: D= kλ /(βcosθ), en la que el valor de la constante K está relacionado con la definición de β, cuando β es la mitad del ancho y el alto, K es 0,89; Cuando β es el ancho integral, K es 1,0. Los datos obtenidos se muestran en la figura:

diffraction

En este momento, la pendiente correspondiente es la distorsión reticular que muestra el material. Se puede ver que la distorsión de la red correspondiente a la curva 1 es de aproximadamente 0,016 y la distorsión de la red correspondiente a la curva 2 es de aproximadamente 0,008. Además, tome los datos de intersección para calcular el tamaño de grano del material:

materials

2.Cálculo de la densidad de dislocaciones:

La dislocación es un defecto cristalino común enmateriales,y la densidad de dislocaciones se puede estimar mediante la fórmula de Scherrer. La siguiente fórmula se basa en la relación entre la fuerza del pico de difracción y la densidad de dislocación, y calcula la densidad de dislocación del material midiendo la fuerza del pico de difracción.

​XRD

Para materiales amorfos es necesario utilizar la siguiente fórmula:

diffraction

XRDLos datos nos proporcionan una gran cantidad de información al estudiar las propiedades de los materiales. Al calcular el tamaño de grano, la distorsión de la red y la densidad de dislocación, se pueden comprender mejor la estructura y las propiedades del material.


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