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  • Difractómetro
    Difractómetro
    1. La precisión del difractómetro es alta. 2. El rango de aplicación del difractómetro es amplio. 3. El difractómetro es fácil de operar, conveniente y eficiente.
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    1. La máquina de cristal único adopta tecnología de control PLC. 2. Diseño modular, accesorios plug and play. 3. Equipo electrónico de enclavamiento de puertas con doble protección. 4. Tubo de rayos X de cristal único: se puede seleccionar una variedad de blancos, como Cu, Mo, etc. 5. El cristal único adopta una tecnología concéntrica de cuatro círculos para garantizar que el centro de ningún goniómetro permanezca inalterado.
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    Analizador de cristales de rayos X en serie
    1. El instrumento de rayos X es fácil de operar y rápido para detectar. 2. El instrumento de rayos X es preciso y fiable, con un rendimiento excelente. 3. El aparato de rayos X cuenta con diversos accesorios funcionales para satisfacer las necesidades de diferentes propósitos de prueba.
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  • Un difractómetro de rayos X 2D
    Un difractómetro de rayos X 2D
    Ventajas: Profundidad de penetración de rayos X continuamente ajustable Capacidad de observar la distribución de planos cristalinos con diferentes orientaciones. Análisis de la distribución de la orientación en muestras como fibras, películas delgadas y polvos. Examen de características estructurales como la distorsión reticular y el tamaño de los cristalitos.
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Difractómetro de rayos X clásico caso compartido

2023-09-02

1. Análisis cualitativo de la imagen del objeto.


La fase se refiere a un compuesto con una estructura fija formada por varios elementos de la muestra (incluidos elementos elementales y soluciones sólidas). Cualquier sustancia cristalina tiene una específica.estructura cristalina(tipo de cristal, tamaño de celda y tipo de partícula, número y distribución) y elementos componentes. Una sustancia tiene su propio espectro de difracción único que le corresponde, y el espectro de difracción de sustancias heterogéneas es irrelevante. Superposición simple de espectros de difracción de fases independientes existentes.

El análisis cualitativo de fase puede basarse en ladifracción de rayos Xpatrón (posición del pico, intensidad, composición de elementos) de la muestra para buscar y comparar con la base de datos de difracción de muestras para determinar la composición de fase.

Phase quantification

Sobre la base de la caracterización de fase, también podemos ver mucha información útil: grupo espacial, parámetros de celda, posición de Bragg, etc.

X-ray diffraction


2.Análisis semicuantitativo

Premisa de plegado semicuantitativo de SQ:

(1) Tiene sentido sólo después de que se determina la fase de posesión;

(2) Cuantificación de fasespor altura de pico y valor I/Icor;

(3) Valor I/Icor de la tarjeta PDF, los usuarios también pueden ingresar el valor I/Icor;

(4) El valor I/Icor de la biblioteca de estructuras es generalmente más confiable que el valor medido.


crystalline structure


3.Análisis de fase cuantitativo de Rietveld sin estándar (fase holocristalina)

El espectro de difracción de mezclas policristalinas con diferentes fases es la superposición del peso (factor de escala) del espectro de difracción de cada fase componente. Aunque la intensidad de difracción de cada fase componente se ve afectada por otras fases (el coeficiente de absorción de masa total), es proporcional a su contenido, por lo que puede obtenerse ajustando y refinando el espectro completo.

Phase quantification




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