Análisis de difracción de rayos X de muestras policristalinas:
Cuando se irradian rayos X sobre la muestra, los detectores convencionales utilizan un canal para recibir datos. Los detectores de matriz unidimensional avanzados pueden recibir datos simultáneamente de 640 canales, lo que aumenta la velocidad de la prueba en más de diez veces.





