Estructura fina de absorción de rayos X(XAFS), también llamada espectroscopía de absorción de rayos X (XAS), es una poderosa herramienta para estudiar la estructura atómica o electrónica local de materiales basada en una fuente de luz de radiación sincrotrón, y se usa ampliamente en campos calientes como la catálisis, energía y nano.
ElXAFSEl espectro consta de dos partes principales: estructura del lado cercano de absorción de rayos X (XANES) y estructura fina de absorción de rayos X extendida (EXAFS).
EXAFS: El rango de energía es de aproximadamente 50 eV a 1000 eV detrás del borde de absorción, que proviene deradiografíaexcitación
La capa interna de fotoelectrones resulta de un efecto de dispersión de un solo electrón entre el átomo circundante y el átomo absorbente.
XANES: Un rango de aproximadamente 10 eV antes del borde de absorción hasta aproximadamente 50 eV después del borde de absorción, principalmente desde
Rayos X. Dispersión múltiple de electrones individuales entre los átomos circundantes y absorbentes mediante fotoelectrones excitados de la capa interna.
Campo de aplicación:
Catálisis industrial, materiales de almacenamiento de energía, nanomateriales, toxicología ambiental, también análisis de calidad, análisis de elementos pesados, etc.
