Espectómetro de estructura fina por absorción de rayos X Es una herramienta poderosa para estudiar la estructura atómica o electrónica local de los materiales, ampliamente utilizada en campos populares como la catálisis, la energía y la nanotecnología.
HAFS Ventajas principales:
Producto con el flujo luminoso más alto:
Flujo de fotones superior a 1000000 fotones/segundo/eV, con una eficiencia espectral varias veces superior a la de otros productos; obtención de datos con una calidad equivalente a la radiación de sincrotrón
Excelente estabilidad:
La estabilidad de la intensidad de la luz monocromática de la fuente de luz es mejor que el 0,1% y la deriva de energía durante la recolección repetida es inferior a 50 meV.
Límite de detección del 1%:
El alto flujo luminoso, la excelente optimización de la trayectoria óptica y la excelente estabilidad de la fuente de luz garantizan que se obtengan datos EXAFS de alta calidad incluso cuando el contenido de elementos medidos es del 1%.
1.
Principio del instrumento
2.datos de prueba
3.Elementos medibles: La parte verde puede medir el lado K y la parte amarilla puede medir el lado L
4.Área de aplicación
