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  • Difractómetro
    Difractómetro
    1. La precisión del difractómetro es alta. 2. El rango de aplicación del difractómetro es amplio. 3. El difractómetro es fácil de operar, conveniente y eficiente.
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  • Difracción de rayos X de monocristal
    Difracción de rayos X de monocristal
    1. La máquina de cristal único adopta tecnología de control PLC. 2. Diseño modular, accesorios plug and play. 3. Equipo electrónico de enclavamiento de puertas con doble protección. 4. Tubo de rayos X de cristal único: se puede seleccionar una variedad de blancos, como Cu, Mo, etc. 5. El cristal único adopta una tecnología concéntrica de cuatro círculos para garantizar que el centro de ningún goniómetro permanezca inalterado.
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  • Analizador de cristales de rayos X en serie
    Analizador de cristales de rayos X en serie
    1. El instrumento de rayos X es fácil de operar y rápido para detectar. 2. El instrumento de rayos X es preciso y fiable, con un rendimiento excelente. 3. El aparato de rayos X cuenta con diversos accesorios funcionales para satisfacer las necesidades de diferentes propósitos de prueba.
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  • Un difractómetro de rayos X 2D
    Un difractómetro de rayos X 2D
    Ventajas: Profundidad de penetración de rayos X continuamente ajustable Capacidad de observar la distribución de planos cristalinos con diferentes orientaciones. Análisis de la distribución de la orientación en muestras como fibras, películas delgadas y polvos. Examen de características estructurales como la distorsión reticular y el tamaño de los cristalitos.
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¿Cuáles son las ventajas de la XRD in situ con radiación sincrotrón?

2023-08-29

difracción de rayos X, a través deldifracción de rayos Xde un material, el análisis de su patrón de difracción, para obtener la composición del material, la estructura o forma de los átomos o moléculas dentro del material y otros medios de investigación. Debido a las ventajas de la propia fuente de luz de radiación sincrotrón con un alto flujo de fotones y una mayor colimación, a menudo se obtienen más señales de difracción y más fuertes, lo que proporciona más posibilidades para el análisis de datos posterior.

X-ray diffraction

Ventaja tecnológica:

1. La XRD in situ puede obtener información sobre cambios estructurales en tiempo real en el proceso de reacción del material, lo que puede comprender en profundidad la reacción del material en el proceso de carga y descarga, y también tiene una gran importancia como guía sobre cómo mejorar el material; No in situXRDLas pruebas a menudo no son un buen retorno a la condición real; además, si el estado del material probado es sensible al aire, entonces el material debe colocarse en el dispositivo de prueba de aislamiento de aire para reflejar el verdadero estado del material.


2, la prueba XRD in situ puede obtener mucha información comparable en poco tiempo, porque todo el proceso de la prueba in situ es la misma ubicación del mismoprueba de materiales, por lo que la información obtenida (ya sean los parámetros celulares, la fuerza máxima u otros parámetros) es relativamente comparable.

 

Sin embargo, la información obtenida por XRD no in situ es relativamente pobre en comparabilidad y requiere una mayor operación durante el proceso de prueba. Por ejemplo, si la lámina del electrodo está doblada después de ser desmontada y lavada, el nivel del material probado cambiará, la cima del XRD medido cambiará y los parámetros correspondientes de la celda obtenidos mediante refinación también cambiarán. Sin embargo, la calidad y distribución de los materiales activos en diferentes placas de electrodos son inevitablemente diferentes, lo que conduce inevitablemente a una mala comparabilidad de la resistencia máxima en diferentes estados de carga y descarga.



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