Estructura fina de absorción de rayos XSpecho(XAFS) es una poderosa herramienta para estudiar la estructura atómica o electrónica local de los materiales, ampliamente utilizada en campos populares como la catálisis, la energía y la nanotecnología.
El principio deEspectro de estructura fina de absorción de rayos X (XAFS):
Espectro de estructura fina de absorción de rayos X Se refiere a los espectros de alta resolución cerca de los bordes característicos de los electrones del núcleo atómico que absorben rayos X. Cuando la energía de los rayos X es igual a la energía de excitación de los electrones de la capa interna del elemento medido, estos sufrirán una fuerte absorción, lo que resulta en un límite de absorción (o borde de absorción). Cerca del borde de absorción, debido a la dispersión múltiple y otras razones, el coeficiente de absorción de los rayos X presentará fenómenos oscilatorios, concretamente, una estructura fina.
2. Principales ventajas deEspectro de estructura fina de absorción de rayos X (XAFS):
(1) El producto de flujo luminoso más alto, con un flujo de fotones superior a 1000000 fotones/segundo/eV y una eficiencia espectral varias veces mayor que otros productos; Obtener una calidad de datos equivalente a la radiación de sincrotrón
(2) Excelente estabilidad, la estabilidad de la intensidad de la luz monocromática de la fuente de luz es mejor que 0,1% y la deriva de energía repetida es inferior a 50 meV.
(3) El límite de detección del 1%, el alto flujo de luz, la excelente optimización de la trayectoria óptica y la excelente estabilidad de la fuente de luz garantizan que aún se puedan obtener datos EXAFS de alta calidad cuando el contenido de elementos medidos es del 1%.
3. Áreas de aplicación de XAFS:
Catálisis industrial, materiales de almacenamiento de energía, nanomateriales, toxicología ambiental, análisis cualitativo, análisis de elementos pesados, etc.
4. Características principales de XAFS:
(1) Ordenamiento de corto alcance: EXAFS depende de interacciones de corto alcance y no depende del ordenamiento de largo alcance.XAFS Se puede utilizar para estudiar la estructura de sistemas desordenados como centros activos amorfos, líquidos, fundidos y catalizadores.
(2) Especificidad del elemento: El método de fluorescencia permite medir muestras de elementos con concentraciones tan bajas como una millonésima. Ajustando la energía incidente de los rayos X, se pueden estudiar las estructuras vecinas de los átomos de diferentes elementos en el mismo compuesto.
(3) Características de polarización: Los rayos X polarizados se pueden utilizar para medir ángulos de enlace atómico y estructuras superficiales en muestras orientadas.
ElEspectro de estructura fina de absorción de rayos X, con sus principios únicos, características significativas y amplios campos de aplicación, se ha convertido en una herramienta indispensable e importante en múltiples campos como la ciencia de los materiales, la química catalítica y la investigación energética, proporcionando un fuerte apoyo para la exploración en profundidad de las microestructuras de los materiales y los estados electrónicos.
