El TDM-20Mesa de trabajoDifractómetro de rayos XUtiliza un nuevo detector de matriz de alto rendimiento, y la carga de este detector ha mejorado enormemente el rendimiento general de la máquina. El TDM-20Mesa de trabajodifracción de rayos xSe utiliza principalmente para el análisis de fases de polvos, sólidos y materiales pastosos similares.El TDM-20 Mesa de trabajo Difractómetro de rayos XUtiliza el principio de difracción de rayos X para realizar análisis cualitativos o cuantitativos, análisis de estructura cristalina y otros materiales policristalinos como muestras de polvo y muestras de metal.Mesa de trabajo difracción de rayos xEs ampliamente utilizado en industrias como la industria, la agricultura, la defensa nacional, los productos farmacéuticos, los minerales, la seguridad alimentaria, el petróleo, la educación y la investigación científica.
