El TD-3700 de alta resoluciónDifractómetro de rayos XEstá equipado con una variedad de detectores de alto rendimiento, como detectores de matriz unidimensional de alta velocidad, detectores bidimensionales, detectores SDD, etc. TD-3700 X-raydifractómetro Integra análisis rápido, operación conveniente y seguridad para el usuario. La arquitectura de hardware modular y el sistema de software personalizado logran una combinación perfecta, lo que hace que su tasa de falla sea extremadamente baja, el rendimiento antiinterferencia sea bueno y garantiza un funcionamiento estable a largo plazo de la fuente de alimentación de alto voltaje.TD-3700Difractómetro de rayos XPuede aumentar la intensidad del cálculo de difracción en decenas de veces o más, obtener patrones de difracción completos de alta sensibilidad y alta resolución y una mayor intensidad de conteo en un período de muestreo más corto, y también admite el escaneo de datos de transmisión. La resolución del modo de transmisión es mucho mayor que la del modo de difracción, lo que es adecuado para el análisis estructural y otros campos. El modo de difracción tiene fuertes señales de difracción y es más adecuado para la identificación de fase de rutina en el laboratorio.
