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  • Difractómetro
    Difractómetro
    1. La precisión del difractómetro es alta. 2. El rango de aplicación del difractómetro es amplio. 3. El difractómetro es fácil de operar, conveniente y eficiente.
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  • Difracción de rayos X de monocristal
    Difracción de rayos X de monocristal
    1. La máquina de cristal único adopta tecnología de control PLC. 2. Diseño modular, accesorios plug and play. 3. Equipo electrónico de enclavamiento de puertas con doble protección. 4. Tubo de rayos X de cristal único: se puede seleccionar una variedad de blancos, como Cu, Mo, etc. 5. El cristal único adopta una tecnología concéntrica de cuatro círculos para garantizar que el centro de ningún goniómetro permanezca inalterado.
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  • Analizador de cristales de rayos X en serie
    Analizador de cristales de rayos X en serie
    1. El instrumento de rayos X es fácil de operar y rápido para detectar. 2. El instrumento de rayos X es preciso y fiable, con un rendimiento excelente. 3. El aparato de rayos X cuenta con diversos accesorios funcionales para satisfacer las necesidades de diferentes propósitos de prueba.
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  • Un difractómetro de rayos X 2D
    Un difractómetro de rayos X 2D
    Ventajas: Profundidad de penetración de rayos X continuamente ajustable Capacidad de observar la distribución de planos cristalinos con diferentes orientaciones. Análisis de la distribución de la orientación en muestras como fibras, películas delgadas y polvos. Examen de características estructurales como la distorsión reticular y el tamaño de los cristalitos.
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Caracterización de poros de materiales mesoporosos ordenados.

2024-01-26

SBA-15 es un tamiz molecular mesoporoso a base de silicio con una estructura de poros rectos hexagonales altamente ordenados (p6 mm), el tamaño de los poros puede variar de 5 a 50 nm y la pared de los poros es más gruesa.

Powder XRD

Prueba XRD de materiales mesoporosos ordenados.

XRD en polvoSe puede dividir en XRD de gran angular y XRD de ángulo pequeño según el tamaño del ángulo de difracción. En general, la disposición atómica de los cristales es ordenada, y la mayor parte del espaciado de las caras del cristal y el espaciado atómico son de un orden de magnitud, es decir, por debajo de 0,2 nm. En la actualidad, la disposición atómica de la mayoría de los materiales mesoporosos está desordenada y el pico de difracción XRD se basa en el orden de los canales mesoporosos.

small-angle XRD

La posición del poro se puede determinar a partir del patrón XRD y la intensidad de la difracción refleja el orden de los poros y la densidad de la pared de los poros en el material. Una vez sintetizado el material, la estructura de fases del material está determinada porXRD de ángulo pequeño.

Pruebas de rayos X y SEM de materiales mesoporosos ordenados.

Debido a la gran escala de orden de los materiales mesoporosos ordenados, la disposición ordenada de los poros se puede ver fácilmente en la imagen general del microscopio electrónico de transmisión y se puede medir el tamaño de los poros de los materiales. A través de la transformada de Fourier de la imagen TEM, ladifracciónSe puede obtener el patrón del material y se puede juzgar la fase cristalina del material.

diffraction

Caracterización de la desorción de nitrógeno.

La adsorción de nitrógeno es un método eficaz para caracterizar materiales porosos. El área de superficie específica del material se puede obtener mediante adsorción y desorción de nitrógeno, y la distribución del tamaño de poro se puede calcular mediante el método BJH. La adsorción y desorción de nitrógeno de materiales mesoporosos ordenados son generalmente isotermas IV acompañadas de bucles de histéresis H1. Y muestra un fuerte pico en la distribución del tamaño de los poros.

Powder XRD


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