Difractómetro de rayos XSe utiliza principalmente para análisis cuantitativos y cualitativos de fase, análisis de estructura cristalina, análisis de estructura de materiales, análisis de orientación de cristales, determinación de tensión macroscópica o microscópica, determinación del tamaño de grano, determinación de cristalinidad, etc. de muestras de polvo, bloques o películas. Producido por Dandong Tongda Technology Co., Ltd. adopta el control PLC de Siemens importado, lo que hace que el TD-3500Difractómetro de rayos XTiene las características de alta precisión, alta precisión, buena estabilidad, larga vida útil, fácil actualización, fácil operación e inteligencia, y puede adaptarse de manera flexible al análisis de pruebas y la investigación en varias industrias.
