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  • Difractómetro
    Difractómetro
    1. La precisión del difractómetro es alta. 2. El rango de aplicación del difractómetro es amplio. 3. El difractómetro es fácil de operar, conveniente y eficiente.
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    Difracción de rayos X de monocristal
    1. La máquina de cristal único adopta tecnología de control PLC. 2. Diseño modular, accesorios plug and play. 3. Equipo electrónico de enclavamiento de puertas con doble protección. 4. Tubo de rayos X de cristal único: se puede seleccionar una variedad de blancos, como Cu, Mo, etc. 5. El cristal único adopta una tecnología concéntrica de cuatro círculos para garantizar que el centro de ningún goniómetro permanezca inalterado.
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  • Analizador de cristales de rayos X en serie
    Analizador de cristales de rayos X en serie
    1. El instrumento de rayos X es fácil de operar y rápido para detectar. 2. El instrumento de rayos X es preciso y fiable, con un rendimiento excelente. 3. El aparato de rayos X cuenta con diversos accesorios funcionales para satisfacer las necesidades de diferentes propósitos de prueba.
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  • Un difractómetro de rayos X 2D
    Un difractómetro de rayos X 2D
    Ventajas: Profundidad de penetración de rayos X continuamente ajustable Capacidad de observar la distribución de planos cristalinos con diferentes orientaciones. Análisis de la distribución de la orientación en muestras como fibras, películas delgadas y polvos. Examen de características estructurales como la distorsión reticular y el tamaño de los cristalitos.
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Difracción de rayos X incidente rasante

2024-01-13

La incidencia del pastoreo significa queradiografíase expone a la película en un ángulo de incidencia muy pequeño (< 5°), lo que reduce en gran medida la profundidad de penetración en la película. Al mismo tiempo, un ángulo de baja incidencia mayor aumenta el área de irradiación de rayos X sobre la muestra y aumenta el volumen de la muestra que participa en la difracción. En este artículo se presenta el papel de GID en el análisis estructural de películas delgadas.


Ejemplo: prueba GID de película monocapa

En este ejemplo, la muestra es una película policristalina de RuO2 de 14 nm preparada sobre un sustrato de silicio monocristalino (100). Por lo tanto, la señal de la muestra de película delgada en el convencionalXRDEl patrón está enmascarado por la señal del monocristal de Si. Aunque los picos de difracción de la película delgada se pueden ver en la imagen ampliada, la señal es muy débil. El espectro GID de la muestra en un ángulo incidente de 0,3 grados se muestra en la Figura 2. No hay señal de sustrato monocristalino de Si en la figura y la señal de la película es obvia. 

X-ray

                                                                                    Figura 1

XRD

                                                                                    Figura 2



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