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El accesorio de temperatura media y baja es un dispositivo experimental que se utiliza para probar y analizar materiales o muestras dentro de un rango de temperatura específico (normalmente un entorno de temperatura media baja). Las áreas de aplicación incluyen la ciencia de los materiales, la ingeniería química y la investigación y el desarrollo de fármacos. Con el avance continuo de la tecnología y la creciente demanda de aplicaciones, desempeñará un papel más importante en el futuro.

El accesorio de alta temperatura es un equipo experimental que se utiliza para el análisis de muestras en un entorno de alta temperatura, con el fin de comprender los cambios en la estructura cristalina de las muestras durante el calentamiento a alta temperatura y los cambios en la disolución mutua de varias sustancias durante el calentamiento a alta temperatura. De acuerdo con los diferentes requisitos experimentales, se pueden crear diferentes configuraciones de accesorio de alta temperatura, como diferentes materiales de ventana y diseños de cámara de reacción, para adaptarse a las condiciones experimentales específicas. El accesorio de alta temperatura es un accesorio de temperatura indispensable en la investigación de laboratorio, que no solo mejora la eficiencia y la precisión de los experimentos, sino que también amplía los límites de la investigación científica.

El accesorio de medición integrado multifuncional es un accesorio de instrumento que puede medir múltiples parámetros. Es un accesorio de medición para difractómetros de rayos X, que se utiliza principalmente para mejorar la eficiencia de la medición, aumentar las funciones de medición y mejorar el mantenimiento del instrumento. Se utiliza para el análisis y la prueba de diversos materiales en campos como la ingeniería química, la maquinaria, la geología, los minerales, la metalurgia, los materiales de construcción, la cerámica, la petroquímica, los productos farmacéuticos, etc. Los accesorios de medición integrados multifuncionales desempeñan un papel importante en varios campos, proporcionando un fuerte apoyo a la investigación científica y la producción industrial.

Los accesorios del difractómetro de ángulo pequeño son accesorios importantes que se utilizan en los instrumentos de difracción de rayos X, principalmente para medir los parámetros a escala nanométrica de los materiales. Los accesorios correspondientes se pueden configurar para la difracción de ángulo pequeño, y el rango de ángulo de 0° a 5° se puede utilizar para la prueba de espesor de películas multicapa nanométricas. Al medir los parámetros a escala nanométrica de los materiales, se han proporcionado herramientas poderosas para la investigación en campos como la ciencia de los materiales, la biología y la química.

El portamuestras multifunción puede probar trazas de muestras de polvo, así como muestras que tienen forma de láminas, son de gran tamaño o irregulares y no se pueden cortar ni moler hasta convertirlas en polvo. Es un equipo experimental utilizado en la investigación científica y en los campos industriales para transportar, calentar, rotar y modelar muestras, y es un accesorio de los difractómetros de rayos X.

El irradiador de rayos X de cabina se utiliza para irradiar células o animales pequeños. Un irradiador de rayos X es un instrumento que utiliza rayos X de alta energía para irradiar sustancias con el fin de lograr efectos biológicos o físicos específicos. Se utiliza para diversas investigaciones básicas y aplicadas. A lo largo de la historia, se han utilizado irradiadores de isótopos radiactivos, que requieren el transporte de muestras a una instalación de irradiación central. Hoy en día, se pueden instalar equipos de irradiación de rayos X más pequeños, seguros, simples y de menor costo en los laboratorios para una irradiación de células conveniente y rápida. Los equipos de irradiación de rayos X modernos están equipados con medidas de protección de seguridad integrales, como dispositivos de parada de emergencia, protección contra sobrecalentamiento, funciones de precalentamiento automático, etc., para garantizar un funcionamiento seguro.

El analizador de cristales de rayos X de la serie TDF es un instrumento de rayos X analítico a gran escala que se utiliza para estudiar la microestructura interna de sustancias. Se utiliza principalmente para la orientación de monocristales, la inspección de defectos, la determinación de parámetros reticulares, la determinación de tensiones residuales, el estudio de la estructura de placas y varillas, el estudio de la estructura de sustancias desconocidas y las dislocaciones de monocristales. El analizador de cristal de rayos X de la serie TDF adopta una manga de tubo vertical y se pueden utilizar cuatro ventanas simultáneamente. El analizador de cristales de rayos X de la serie TDF adopta la tecnología de control PLC importada, con alta precisión de control y buen rendimiento antiinterferencias, lo que puede lograr un funcionamiento confiable del sistema. El PLC controla el interruptor de alto voltaje, la elevación y tiene la función de entrenar automáticamente el tubo de rayos X, lo que extiende efectivamente la vida útil del tubo de rayos X y del instrumento de rayos X.

El difractómetro de rayos X TDM-20 se utiliza principalmente para el análisis de fases de polvos, sólidos y materiales similares de tipo pastoso. El difractómetro de rayos X se puede utilizar para análisis cualitativos o cuantitativos, análisis de la estructura cristalina y otros materiales policristalinos, como muestras de polvo y muestras de metal. El difractómetro de rayos X se utiliza ampliamente en industrias como la industria, la agricultura, la defensa nacional, los productos farmacéuticos, los minerales, la seguridad alimentaria, el petróleo, la educación y la investigación científica. El XRD de sobremesa es un equipo experimental que se utiliza para analizar la estructura cristalina de los materiales. El XRD de sobremesa determina la estructura cristalina, los parámetros de red y la composición de fases del material mediante la emisión de rayos X y la medición del ángulo de difracción y la intensidad después de su interacción con la muestra.

El difractómetro de rayos X se utiliza principalmente para el análisis cualitativo y cuantitativo de fases, el análisis de la estructura cristalina, el análisis de la estructura del material, el análisis de la orientación de los cristales, la determinación de la tensión macroscópica o microscópica, la determinación del tamaño del grano, la determinación de la cristalinidad, etc. de muestras de polvo, bloques o películas. El difractómetro de rayos X TD-3500 producido por Dandong Tongda Technology Co., Ltd. adopta el control PLC de Siemens importado, lo que hace que el difractómetro de rayos X TD-3500 tenga las características de alta precisión, alta precisión, buena estabilidad, larga vida útil, fácil actualización, fácil operación e inteligencia, ¡y puede adaptarse de manera flexible al análisis de pruebas e investigación en varias industrias! Es una poderosa herramienta analítica ampliamente utilizada en campos como la ciencia de los materiales, la química, la física y la geología.

El difractómetro de rayos X TD-3700 es un nuevo miembro de la serie TD, equipado con una variedad de detectores de alto rendimiento, como detectores de matriz unidimensional de alta velocidad, detectores bidimensionales, detectores SDD, etc. Integra análisis rápido, operación conveniente y seguridad para el usuario. La arquitectura de hardware modular y el sistema de software personalizado logran una combinación perfecta, lo que hace que su tasa de falla sea extremadamente baja, el rendimiento antiinterferencia sea bueno y garantiza un funcionamiento estable a largo plazo de la fuente de alimentación de alto voltaje. El difractómetro de polvo de rayos X TD-3700 admite métodos de escaneo de datos de difracción convencionales y de escaneo de datos de transmisión. El difractómetro de rayos X en polvo TD-3700, con todas las ventajas del difractómetro de rayos X TD-3500, está equipado con detectores de alto rendimiento. En comparación con los detectores de centelleo o los detectores proporcionales, la intensidad del cálculo de difracción se puede aumentar varias decenas de veces y se pueden obtener patrones de difracción completos de alta sensibilidad y alta resolución y una mayor intensidad de conteo en un período de muestreo más corto.