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Los accesorios de alta temperatura están diseñados para comprender los cambios en la estructura cristalina de las muestras durante el calentamiento a alta temperatura, así como los cambios en la disolución mutua de varias sustancias durante el calentamiento a alta temperatura.

El espectrómetro de estructura fina por absorción de rayos X (XAFS) es una herramienta poderosa para estudiar la estructura atómica o electrónica local de los materiales, ampliamente utilizada en campos populares como la catálisis, la energía y la nanotecnología.

La difracción de rayos X (DRX) permite una cuantificación precisa de la fase TiO2, crucial para la calidad del producto. Los difractómetros de la serie TD de Dandong Tongda, con programas especializados, garantizan un análisis preciso de rutilo/anatasa (<0.2% error).

El difractómetro de rayos X de sobremesa TDM-20 ofrece una potencia de 1200 W en un diseño compacto, superando los estándares internacionales de 600 W. Con una linealidad de ±0,01° y una repetibilidad de 0,0001°, permite un análisis de fase preciso para la investigación de materiales y el control de calidad industrial. Su sistema de refrigeración integrado y la compatibilidad global de accesorios lo convierten en una solución ideal y rentable para laboratorios internacionales.

El analizador de cristales por rayos X de la serie TDF ofrece un rendimiento excepcional en el análisis de microestructuras, permitiendo la orientación de monocristales, la detección de defectos y la medición de tensiones. Con un diseño de tubo vertical, operación multiventana y control PLC importado, garantiza alta precisión y cumplimiento de las normas de seguridad (radiación).<0.1 µSv/h), and adaptability across industries. Backed by ISO certification and global exports, this instrument empowers scientific and industrial advancements worldwide

Dandong Tongda Science and Technology Co., Ltd. es líder en el sector, centrada en la I+D y la innovación en tecnologías clave como el análisis de difracción. Mediante colaboraciones con instituciones académicas, desarrolla productos de alta eficiencia con propiedad intelectual propia, rompiendo monopolios internacionales. La empresa fundamenta su marca en la integridad y la profesionalidad, adhiriéndose al lema «La excelencia marca la pauta, la integridad construye la marca» para potenciar su competitividad y contribuir al desarrollo de la industria de instrumentos científicos en China.

El difractómetro de rayos X de alta resolución TD-3700 ofrece un rendimiento analítico excepcional gracias a su innovadora tecnología de detectores y sus modos de escaneo duales. Con una rápida adquisición de datos, un funcionamiento sencillo y una seguridad mejorada, permite un análisis preciso de materiales en aplicaciones de investigación e industriales, estableciendo nuevos estándares para los instrumentos científicos chinos.

El difractómetro de rayos X de sobremesa TDM-20 integra generación de rayos X avanzada, alta precisión goniométrica y detección eficiente en un diseño compacto. Proporciona análisis de fase fiables para la ciencia de los materiales, la industria farmacéutica y el control de calidad industrial, con el respaldo de soporte global y certificaciones internacionales.

El difractómetro de rayos X TD-5000 rompe el monopolio internacional en instrumentos científicos de alta gama. Esta innovación china ofrece una precisión excepcional (0,0001°) y capacidades de detección avanzadas, al servicio de investigadores en farmacia, ciencia de materiales y química mediante análisis estructurales exhaustivos.

El accesorio de alta temperatura in situ de Dandong Tongda permite el análisis en tiempo real de cambios estructurales en materiales de hasta 1600 °C con una precisión de ±1 °C. Ideal para la investigación de superconductores, cerámicas y películas delgadas, se exporta a todo el mundo.