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+86-415-6123805La espectroscopia de absorción de rayos X es una técnica espectral para analizar la composición elemental y los estados electrónicos de los materiales mediante el uso de los cambios de señal antes y después de la incidencia de los rayos X de radiación sincrotrón.
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XAFS, como técnica de caracterización avanzada para el análisis de la estructura local de materiales, puede proporcionar información de coordinación de la estructura atómica más precisa en el rango estructural de corto alcance que la difracción de cristales de rayos X.
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La estructura fina de absorción de rayos X (XAFS) es una poderosa herramienta para estudiar la estructura atómica o electrónica local de materiales basada en una fuente de luz de radiación sincrotrón.
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