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    Difractómetro
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    Difracción de rayos X de monocristal
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    Analizador de cristales de rayos X en serie
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    Difractómetro de polvo
    1. Tipo de detector: Detector de matriz o detector SDD; 2. Cálculo de control automático del PLC, conversión del modo de integración, el PLC realiza automáticamente PHA, corrección de tiempo muerto 3. Tipo de medición de muestra: muestra de polvo, muestras líquidas, muestras en estado fundido, muestras viscosas, polvos sueltos, muestras sólidas a granel 4. Disponible con una variedad de accesorios de difractómetro. 5. Potencia máxima de salida de polvo: 3 kW
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Potente software de análisis

2023-08-25

一 、 Descripción de las características del software


Este procedimiento es un procedimiento de desarrollo propio. Contiene una variedad deanálisis cuantitativofunciones desarrolladas por nosotros mismos, que están de acuerdo con la teoría de la difracción y se calculan por intensidad integral. Por ejemplo, este procedimiento contiene la función de ajuste, separación y cuantificación de picos de espectro completo, que se pueden cuantificar correctamente incluso cuando el ancho de línea de cada fase es diferente; en ese caso, una función de método cuantitativo de intensidad integral que puede eliminar de manera conveniente y automática la interferencia del pico superpuesto de la fase actual y otra fase y no se ve afectada por diferentes anchos de línea de cada fase, por ejemplo, archivo PDF completocombinación de espectro de cálculo método de ajuste de espectro completoy método de ajuste de espectro completo de combinación de espectro de cálculo de archivo de tarjeta definido por el usuario. Todos los métodos anteriores utilizan el concepto de intensidad integral para el análisis cuantitativo y pueden cuantificarse mediante ajuste de espectro completo bajo la condición de diferentes anchos de línea de cada fase sin involucrar estructura. Se puede eliminar la interferencia de picos superpuestos y se puede reducir o eliminar la influencia de la orientación preferida. El paquete de software puede utilizar una base de datos PDF o una base de datos de difracción de polvo de DQO basada en DQOcristalografíaBase de datos para análisis cuantitativo y cuantitativo de fase.


二、Características de este paquete de análisis XRPD


(1) Análisis cuantitativo de ajuste de espectro completo de combinación de espectro de cálculo de tarjeta PDF.

(2) Análisis cuantitativo de ajuste de espectro completo de combinación de espectro de cálculo de tarjeta autodefinida.

(3) Análisis cuantitativo de intensidad integral mediante el método de la tarjeta k.

(4) Problemas de análisis de soluciones sólidas.

(5) ANÁLISIS DE PARÁMETROS DE RED: SELECCIONAR ALGO EN ESPECTRO multifásico PARA ENCONTRAR SUS PARÁMETROS DE RED.

(6) Problema del método de parámetros básicos.

(7)Función de separación de picos de espectro completoy su papel en el análisis cuantitativo.

(8) Problema de separación de picos superpuestos.

(9)Diagrama polar.

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